[发明专利]晶体振荡器以及振荡装置有效
申请号: | 201410120674.5 | 申请日: | 2014-03-27 |
公开(公告)号: | CN104079294B | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 赤池和男;小林薫 | 申请(专利权)人: | 日本电波工业株式会社 |
主分类号: | H03L1/02 | 分类号: | H03L1/02 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张洋 |
地址: | 日本东京涉谷区笹*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体振子 舍入 晶体振荡器 振荡输出 振荡装置 累积部 电路规模 输入时钟 运算处理 振荡频率 频率差 后段 运算 检测 | ||
1.一种晶体振荡器,其特征在于包括:
用于振荡器输出的振荡电路,连接于用于振荡器输出的晶体振子;
第一振荡电路及第二振荡电路,分别连接于用于温度检测的第一晶体振子及第二晶体振子;
加热部,用来实现使放置所述第一晶体振子及所述第二晶体振子的环境温度固定;
频率差检测部,如果将所述第一振荡电路的振荡频率设为f1,将基准温度下的所述第一振荡电路的振荡频率设为f1r,将所述第二振荡电路的振荡频率设为f2,将基准温度下的所述第二振荡电路的振荡频率设为f2r,则求出如下数字值作为温度检测值,该数字值对应于f1与f1r的差量所对应的值、和f2与f2r的差量所对应的值的差量值;
累积部,根据所指定的累积数将在所述频率差检测部获得的数字值即所述温度检测值累积;
舍入处理部,对在所述累积部被累积的所述温度检测值,与指定的所述累积数独立地指定舍入量,根据所指定的所述舍入量进行舍入处理;以及
加热控制部,基于在所述舍入处理部被舍入处理过的所述温度检测值来控制供给到所述加热部的电力,
所述用于振荡器输出的晶体振子是与所述第一晶体振子及所述第二晶体振子不同的晶体振子、或是兼用作所述第一晶体振子;
所述用于振荡器输出的振荡电路是与所述第一振荡电路及所述第二振荡电路不同的振荡电路、或是兼用作所述第一振荡电路。
2.根据权利要求1所述的晶体振荡器,其特征在于包括:
累积数指定部,用来将所述累积数指定给所述累积部;以及
舍入量指定部,用来将所述舍入量指定给所述舍入处理部。
3.根据权利要求2所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述累积部包括:加算部,被输入所述温度检测值;延迟输出部,使来自该加算部的输出值延迟预先设定的时钟数m后输出,其中m为自然数;以及栅极电路,将该延迟输出部的输出值作为被加到所述温度检测值的被加值输入到所述加算部,通过每隔多于所述时钟数m的时钟数m'便从所述累积数指定部输入的清除信号而使该输出值变为逻辑0。
4.根据权利要求3所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述延迟输出部使来自所述加算部的输出值延迟1时钟后输出。
5.根据权利要求1所述的晶体振荡器,其特征在于:
所述累积部的所述温度检测值的累积数设定为29~212。
6.根据权利要求1所述的晶体振荡器,其特征在于:
通过所述舍入处理部对所累积的所述温度检测值进行的所述舍入处理的舍入量为2-10~2-13。
7.根据权利要求1所述的晶体振荡器,其特征在于:
在所述舍入处理部对所累积的所述温度检测值进行除法运算的除数为大于所述累积数的值。
8.一种振荡装置,其特征在于包括:
权利要求1所述的晶体振荡器、以及将该晶体振荡器的振荡输出作为时钟信号且包含锁相环的振荡装置的主体电路部。
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