[发明专利]支撑单元及包括该单元的基板处理装置在审
申请号: | 201410122654.1 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN104078387A | 公开(公告)日: | 2014-10-01 |
发明(设计)人: | 李元行 | 申请(专利权)人: | 细美事有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/687;H01L21/3065 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;李洋 |
地址: | 韩国忠*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 支撑 单元 包括 处理 装置 | ||
1.一种基板处理装置,其中,包括:
腔体,其在内部具有处理空间;
支撑单元,其位于上述腔体内并支撑基板;
气体供给单元,其向上述处理空间供给处理气体;以及
等离子体源,其根据上述处理气体产生等离子体,
其中,
上述支撑单元在其上表面形成有环状的突起,
上述支撑单元包括:
内侧槽,其位于上述突起的内侧;
外侧槽,其位于上述突起的外侧;以及
热传递气体供给线,其向上述内侧槽和上述外侧槽提供热传递气体,
上述内侧槽和上述外侧槽的深度互相不同。
2.根据权利要求1所述的基板处理装置,其中,
上述内侧槽位于中心区域并形成为圆形形状,
上述外侧槽形成为环形的圈形状。
3.根据权利要求2所述的基板处理装置,其中,
上述内侧槽和上述外侧槽在其内部分别包括多个突出部。
4.根据权利要求3所述的基板处理装置,其中,
上述突起的上端与上述突出部的上端形成在同一高度。
5.根据权利要求3所述的基板处理装置,其中,
在上方观察时,上述内侧槽的面积比上述外侧槽的面积宽。
6.根据权利要求3所述的基板处理装置,其中,
上述外侧槽的深度比上述内侧槽的深度深。
7.根据权利要求3所述的基板处理装置,其中,
上述外侧槽的体积比上述内侧槽的体积大。
8.根据权利要求3所述的基板处理装置,其中,
上述外侧槽的体积与上述内侧槽的体积相同。
9.根据权利要求1至8中任意一项所述的基板处理装置,其中,
上述热传递气体供给线包括与上述内侧槽连接的第1热传递气体供给线和与上述外侧槽连接的第2热传递气体供给线。
10.根据权利要求1至8中任意一项所述的基板处理装置,其中,
上述支撑单元包括静电夹头。
11.根据权利要求1至8中任意一项所述的基板处理装置,其中,
上述热传递气体包括氦。
12.一种支撑单元,其在实施基板处理工序的腔体内部支撑基板,其中,
在上述支撑单元的上表面形成有环状的突起,
上述支撑单元包括:
内侧槽,其位于上述突起的内侧;
外侧槽,其位于上述突起的外侧;以及
热传递气体供给线,其向上述内侧槽和上述外侧槽提供热传递气体,
上述内侧槽与上述外侧槽的深度互相不同。
13.根据权利要求12所述的支撑单元,其中,
上述内侧槽位于中心区域并形成为圆形形状,
上述外侧槽形成为环形的圈形状。
14.根据权利要求13所述的支撑单元,其中,
上述内侧槽和上述外侧槽在其内部分别包括多个突出部。
15.根据权利要求14所述的支撑单元,其中,
上述突起的上端和上述突出部的上端形成在同一高度。
16.根据权利要求14所述的支撑单元,其中,
在上方观察时,上述内侧槽的面积比上述外侧槽的面积宽。
17.根据权利要求14所述的支撑单元,其中,
上述外侧槽的深度比上述内侧槽的深度深。
18.根据权利要求14所述的支撑单元,其中,
上述外侧槽的第2体积比上述内侧槽的第1体积大。
19.根据权利要求14所述的支撑单元,其中,
上述外侧槽的第2体积与上述内侧槽的第1体积相同。
20.根据权利要求12至19中任意一项所述的支撑单元,其中,
上述热传递气体供给线包括与上述内侧槽连接的第1热传递气体供给线和与上述外侧槽连接的第2热传递气体供给线。
21.根据权利要求12至19中任意一项所述的支撑单元,其中,
上述支撑单元包括静电夹头。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于细美事有限公司,未经细美事有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410122654.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种改善刻蚀副产物凝结缺陷的晶圆净化腔
- 下一篇:MOS晶体管的形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造