[发明专利]一种提升紫外LED外延材料结晶质量的生长方法有效
申请号: | 201410123663.2 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN103887381B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 王晓波 | 申请(专利权)人: | 西安神光皓瑞光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 胡乐 |
地址: | 710100 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提升 紫外 led 外延 材料 结晶 质量 生长 方法 | ||
1.一种提升紫外LED外延材料结晶质量的生长方法,包括以下步骤:
(1)以蓝宝石作为生长基底,生长低温AlN层;
(2)生长高温AlN层;
(3)生长若干个周期的超薄AlGaN/AlN层,每个周期中AlGaN采用Al组分先渐变减小、再渐变增大的方式生长,然后再生长AlN;
(4)生长掺杂硅烷的n型AlGaN层;
(5)生长若干个周期的AlxGa1-xN/AlGaN超晶格层,x<y;
(6)生长若干个周期的AlxGa1-xN/AlyGa1-yN(y>x)量子阱垒区,x<y;
(7)生长掺杂镁p型AlGaN阻挡层;
(8)生长掺杂镁p型AlGaN层;
(9)生长掺杂镁p型GaN层;
(10)在氮气氛围下,退火。
2.根据权利要求1所述的提升紫外LED外延材料结晶质量的生长方法,其特征在于:
步骤(3)的每个周期先以Al组分渐变减小的方式生长1-3nm,再以Al组分渐变增大的方式生长1-3nm,然后生长3-5nm的AlN薄层。
3.根据权利要求2所述的提升紫外LED外延材料结晶质量的生长方法,其特征在于,步骤(3)中每个周期的生长按照以下操作进行:在温度1060℃,打开TMGa和TMAl,其中TMAl一直保持40umol/min,TMGa的流量从0逐渐增加到300umol/min,生长1.5nm,再逐渐减小TMGa的流量从300umol/min到0,生长1.5nm;然后关闭TMGa,生长3nm的AlN薄层。
4.根据权利要求2所述的提升紫外LED外延材料结晶质量的生长方法,其特征在于:步骤(5)共生长10个周期,每个周期的厚度7nm;步骤(6)共生长8个周期,每个周期中的阱层AlxGa1-xN和垒层AlyGa1-yN的厚度分别为4nm和8nm。
5.根据权利要求1至4任一所述的提升紫外LED外延材料结晶质量的生长方法,其特征在于:0.1<x<0.4,0.3<y<0.6。
6.一种紫外LED外延片结构,其特征在于,包括依次生长的以下各层:
蓝宝石基底;
低温AlN层;
高温AlN层;
若干个周期的超薄AlGaN/AlN层,每个周期中的AlGaN沿生长方向Al组分先渐变减小、再渐变增大;
掺杂硅烷的n型AlGaN层;
若干个周期的AlxGa1-xN/AlGaN超晶格层,x<y;
若干个周期的AlxGa1-xN/AlyGa1-yN(y>x)量子阱垒区,x<y;
掺杂镁p型AlGaN阻挡层;
掺杂镁p型AlGaN层;
掺杂镁p型GaN层。
7.根据权利要求6所述的紫外LED外延片结构,其特征在于:所述若干个周期的超薄AlGaN/AlN层中,每个周期先以Al组分渐变减小的方式生长1-3nm,再以Al组分渐变增大的方式生长1-3nm,然后生长3-5nm的AlN薄层。
8.根据权利要求7所述的紫外LED外延片结构,其特征在于:所述若干个周期的AlxGa1-xN/AlGaN超晶格层,共有10个周期,每个周期的厚度7nm;所述若干个周期的AlxGa1-xN/AlyGa1-yN(y>x)量子阱垒区,共有8个周期,每个周期中的阱层AlxGa1-xN和垒层AlyGa1-yN的厚度分别为4nm和8nm。
9.根据权利要求6至8任一所述的紫外LED外延片结构,其特征在于:0.1<x<0.4,0.3<y<0.6。
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