[发明专利]一种紫光LED的外延生长方法有效

专利信息
申请号: 201410123905.8 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN103887380A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 王晓波 申请(专利权)人: 西安神光皓瑞光电科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/32
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 胡乐
地址: 710100 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 紫光 led 外延 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种紫光LED的外延生长方法,包括以下步骤:

(1)以蓝宝石作为生长基底,生长低温AlN层;

(2)生长高温AlN层;

(3)生长若干个周期的AlN/AlGaN超晶格结构;

(4)生长n型掺杂AlGaN层;

(5)生长若干个周期的n型交替掺杂AlGaN/GaN超晶格结构;

(6)生长AlGaN/InGaN垒阱的周期结构,作为量子阱结构有源区;

(7)生长掺杂p型AlGaN阻挡层;

(8)生长掺杂p型GaN层;

(9)在氮气氛围下退火;

上述步骤(6)首先进行若干个主体周期结构的生长,每个周期是先以In含量阶梯递减生长两层InGaN,然后升温生长一层掺杂硅烷的AlGaN势垒层,再降温以In含量阶梯递增生长两层InGaN;完成若干个主体周期结构的生长后,再进行1-2个结束周期结构的生长,所述结束周期结构中升温生长AlGaN势垒层过程中不掺杂硅烷,其他条件与主体周期结构一致。

2.根据权利要求1所述的紫光LED的外延生长方法,其特征在于:

步骤(5)是在1050℃生长n型交替掺杂AlGaN/GaN超晶格结构,共生长5个周期,总厚度50nm。

3.根据权利要求1或2所述的紫光LED的外延生长方法,其特征在于:步骤(6)具体按照以下方式进行生长:

在770℃生长一层3nm的InxGa1-xN量子阱层,然后升温到800℃接着生长一层2nm左右InyGa1-yN层,然后升温到1000℃,生长一层掺杂硅烷的AlGaN势垒层厚度10nm,然后降温到800℃接着生长一层2nm左右InyGa1-yN层,再降温到770℃,生长一层3nm的InxGa1-xN的量子阱层,其中0<x,y<1,y<x;以此方式依次生长5个周期;然后生长最后2个周期,其中垒层AlGaN不掺杂,其余条件保持与之前5个周期一致。

4.根据权利要求3所述的紫光LED的外延生长方法,其特征在于:步骤(3)是在温度1050℃生长一层10个周期AlN/AlGaN的超晶格,总厚度70nm。

5.一种紫光LED的外延片结构,其特征在于:包括依次生长的以下各层:

蓝宝石基底;

低温AlN层;

高温AlN层;

若干个周期的AlN/AlGaN超晶格结构;

掺杂n型AlGaN层;

若干个周期的n型交替掺杂AlGaN/GaN超晶格结构;

AlGaN/InGaN垒阱的周期结构,作为量子阱结构有源区;

掺杂p型AlGaN阻挡层;

掺杂p型GaN层;

其中,AlGaN/InGaN垒阱的周期结构依次分为若干个主体周期结构和1-2个结束周期结构,其中若干个主体周期结构的生长,每个周期是先以In含量阶梯递减生长两层InGaN,然后生长一层掺杂硅烷的AlGaN势垒层,再以In含量阶梯递增生长两层InGaN;所述结束周期结构生长于所述若干个主体周期结构的基础上,其生长AlGaN势垒层过程中不掺杂硅烷,其他结构与主体周期结构一致。

6.根据权利要求5所述的外延片结构,其特征在于:共有5个周期的n型交替掺杂AlGaN/GaN超晶格结构,总厚度50nm。

7.根据权利要求5或6所述的外延片结构,其特征在于:所述若干个主体周期结构的生长,每个周期是先生长一层3nm的InxGa1-xN量子阱层,然后生长一层2nm InyGa1-yN层,然后生长一层掺杂硅烷的AlGaN势垒层厚度10nm,接着生长一层2nm左右InyGa1-yN层,再生长一层3nm的InxGa1-xN的量子阱层,其中0<x,y<1,y<x;以此结构共依次生长5个主体周期;最后生长2个所述结束周期结构。

8.根据权利要求7所述的外延片结构,其特征在于:共有10个周期的AlN/AlGaN超晶格结构,总厚度70nm。

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