[发明专利]可更换式电子装置测试治具在审
申请号: | 201410124549.1 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN104950193A | 公开(公告)日: | 2015-09-30 |
发明(设计)人: | 郝菊兰;杨顺全 | 申请(专利权)人: | 富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 更换 电子 装置 测试 | ||
技术领域
本发明涉及一种可更换式电子装置测试治具,尤其涉及一种能够对不同规格的电子装置进行不同性能测试的测试治具。
背景技术
随着电子装置的功能及其连接性、传输性能飞速发展,辅助其加工、装配及测试治具、自动化设备性能要求也相应需更稳定,更精准。所以业界在组装、加工及测试产品时要求对产品保护性能也相应的不断变化及提高。
由于对电子装置的规格不一,性能测试要求也不一而足,因此对电子装置进行性能测试的测试治具在结构以及与电子装置的连接方式上有很大差异。传统的测试治具只能测试特定电子装置的特定性能,一旦需要测试的电子装置发生变化,需要跟换对应的测试治具,因此很难满足规格的多样化的产品性能测试要求。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种能够对不同规格的电子装置进行不同性能测试的测试治具以解决上述问题。
本发明提供一种可更换式电子装置测试治具,该测试治具用于对不同规格的电子装置进行性能参数的测试,所述测试治具包括托盘组和连接模块组,该托盘组包括多个不同规格的托盘,该每个托盘均具有至少一个卡合件,该连接模块组包括至少一个连接模块,所述多个托盘可通过所述卡合件分别与所述连接模块可拆卸的连接。
本发明之可更换式电子装置测试治具,多个不同规格的托盘可通过卡合件可拆卸的与多个连接模块连接,该连接模块中的插头即可与托盘中的电子装置电性连接,并通过与该插头电性连接的测试设备测试该电子装置的性能参数,使该测试治具能够满足不同规格的电子装置以及不同性能测试的要求,有利于提高工业生产的效率。
附图说明
图1为本发明一实施方式中的测试治具示意图。
图2为图1中的第一测试治具示意图。
图3为图2中第一连接模块的第一部分组装示意图。
图4为图2中第一连接模块的第二部分组装示意图。
图5为图3中第一连接模块的爆炸图。
图6为图4中第一连接模块的爆炸图。
图7为图1中的第二测试治具示意图。
图8为图7中第二连接模块的第一部分组装示意图。
图9为图7中第二连接模块的第二部分组装示意图。
图10为图8中第二连接模块的爆炸图。
图11为图9中第二连接模块的爆炸图。
图12为图1中的第三测试治具示意图。
图13为图1中的第四测试治具示意图。
主要元件符号说明
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