[发明专利]测量颗粒粒径分布的方法及装置

权利要求书

1.一种测量颗粒粒径分布的方法，其特征在于，包括：

通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；

选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；

将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。

2.根据权利要求1所述的测量颗粒粒径分布的方法，其特征在于，所述将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布的步骤包括：

将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算两个相邻迭代过程的第一粒径分布与第二粒径分布；

计算所述第二粒径分布于所述第一粒径分布之间的误差值；

若确定所述误差值小于设定值，停止反演迭代计算，并将所述第二粒径分布作为所述颗粒群的所述最终粒径分布。

3.根据权利要求2所述的测量颗粒粒径分布的方法，其特征在于，所述将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算两个相邻迭代过程的第一粒径分布与第二粒径分布的步骤具体通过如下公式计算得到：

fi(n+1)=fi(n)Σj=1N(hij)kΣp=1N(hij)kImeans,jΣl=1Mflnhlj]]>

其中，为所述第一粒径分布，表示第n次迭代所产生的对应粒径参数x_i的比重；为所述第二粒径分布，表示第n+1次迭代所产生的对应粒径参数x_i的比重；I_means(θ_j)为所述角分布，所述离散角度θ_j对应各个离散探测像素，j=1、2、…、N，N表示离散探测像素的像素个数；h_ij为所述系数矩阵中的矩阵元素；k的取值范围为0.1～2.0。