[发明专利]一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法

权利要求书

1.一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其步骤为：

步骤一、将有机膜分离材料基质化学物质涂覆于标准芯片上，制备有机膜分离材料基质芯片；

步骤二、制备测试用水样；

步骤三、将步骤一制得的有机膜分离材料基质芯片置于石英晶体微天平中，通入步骤二制得的测试用水样，检测基质芯片在不同倍频条件下的频率和耗散数据；

步骤四、利用步骤三检测获得数据，采用Voigt或Maxwell模型拟合得到粘弹性薄层厚度变化规律，比较基质芯片表面粘弹性薄层最大厚度拟合值，判定不同测试用水样条件下有机膜分离材料的抗生物污染性能。

2.根据权利要求1所述的一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其特征在于：步骤一采用的涂覆方法包括旋转涂覆、真空镀膜或单分子层自组装涂覆；涂覆形成的基质化学物质薄膜厚度为10～100nm。

3.根据权利要求2所述的一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其特征在于：步骤二制备测试用水样的具体过程为：将微污染水、市政污水、工业废水或工业回用水经预提取、离心、过滤；或直接离心、过滤；或直接离心；或直接过滤后制得测试用水样。

4.根据权利要求3所述的一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其特征在于：所述的预提取操作采用树脂提取、热提取、氢氧化钠提取或甲醛固定中的一种。

5.根据权利要求2或3所述的一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其特征在于：所述的测试用水样在通入石英晶体微天平之前，需采用频率为5～50KHz的超声波进行脱气处理5～15min。

6.根据权利要求5所述的一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其特征在于：步骤三采用石英晶体微天平检测时，对石英晶体微天平的检测条件设定为：1）石英晶体微天平的工作温度为15～35℃；2）至少选择3、5、7、9、11、13倍频中的4种；3）流过有机膜分离材料基质芯片的液体顺序为背景溶液、测试用水样、背景溶液，所述的背景溶液为蒸馏水或纯水，液体流速设定为50～300μl/min。

7.根据权利要求6所述的一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法，其特征在于：步骤四采用Voigt或Maxwell模型对步骤三检测获得数据进行拟合时，设定：流体密度为1000kg/m³，流体粘度为0.001kg/ms，粘弹性薄层粘度为0.0002～0.005kg/ms，粘弹性薄层剪切力为100～1×10⁷Pa，粘弹性薄层厚度为5×10^-12～1×10^-7m。