[发明专利]一种边界扫描测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种边界扫描测试系统及方法。

背景技术

目前，对于电路板的故障诊断，通常采用接触式诊断，即使用针床或人工使用探针，探测电路内部节点的信号来判断电路是否存在故障，并进行故障定位。随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小、微、薄发展，芯片的引脚越来越多，体积却越来越小，造成电路板的密度特别大。芯片的高集成度和印刷版的高密度组装使得电路板的测试的难度也越来越大。

在这种情况下，传统的自动在线测试仪（In Circuit Test，ICT）已经无法满足目前电路板产品的测试要求。联合测试行为组织(Joint Test Action Group，JTAG)定义了一种称为边界扫描测试（Boundary-Scan Testing，BST）的新测试方法。该技术能够对采用表面组装技术（Surface Mount Technology，SMT）形成的电路板的焊接质量进行有效的检测。

但是，现有的边界扫描测试系统的测试速度较慢、测试精度不高。

发明内容

本发明的目的在于提出一种边界扫描测试系统及方法，以达到减少边界扫描测试时间及提高测试精度的目的。

本发明提供了一种边界扫描测试系统，所述系统包括：

主控PC机单元，用于根据目标测试电路板的边界扫描文件和原理图网表生成边界扫描测试向量和期望向量，并将所述边界扫描测试向量传递到测试控制器单元；

测试控制器单元，用于根据所述边界扫描测试向量对所述目标测试电路板进行边界扫描测试，生成所述目标测试电路板的测试数据，并将所述测试数据回传到所述主控PC机单元。

可选的，所述主控PC机单元，还用于根据所述期望向量以及所述测试控制器单元回传的所述测试数据，生成所述目标测试电路板的测试报告。

可选的，其特征在于，所述主控PC机单元和所述测试控制器单元通过USB接口进行连接以及数据传递。

可选的，其特征在于，所述测试控制器单元和所述目标测试电路板通过联合测试行动小组接口进行连接以及数据传递。

可选的，其特征在于，所述测试控制器单元包括：USB芯片、复杂可编程逻辑器件、单片机以及联合测试行动小组芯片。

对应地，本发明还提供了一种边界扫描测试方法，所述方法包括：

根据目标测试电路板的边界扫描文件和原理图网表，生成边界扫描测试向量和期望向量；

根据所述边界扫描测试向量对所述目标测试电路板进行边界扫描测试，生成所述目标测试电路板的测试数据。

可选的，在所述根据目标测试电路板的边界扫描文件和原理图网表，生成边界扫描测试向量和期望向量之前，还包括：

获取目标测试电路板的边界扫描文件和原理图网表。

可选的，在所述根据所述边界扫描测试向量对所述目标测试电路板进行测试，生成所述目标测试电路板的测试数据之后，还包括：

根据所述期望向量以及所述测试控制器单元回传的所述测试数据，生成所述目标测试电路板的测试报告。

本发明提供的一种边界扫描测试系统及方法，通过主控PC机单元生成边界扫描测试向量和期望向量，通过测试控制器单元对目标测试电路板进行边界扫描测试，并生成相关的测试数据回传到主控PC机单元，能够针对采用表面组装技术形成的电路板的焊接质量进行有效的检测，快速的判断出目标测试电路板管脚的焊接情况，由于在相关硬件的基础上与相关的程序结合，使本发明实施例提供的边界扫描测试系统能够快速精准的进行边界扫描测试，提高了测试的精度，且使用USB接口对主控PC机单元和测试控制器单元进行数据传递，使本发明实施例提供的边界扫描测试系统传输数据速度得到提升、边界扫描测试时间缩短。

附图说明

图1是本发明实施例提供的边界扫描测试系统的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的边界扫描测试系统的测试控制器单元的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的边界扫描测试方法的实现流程图。

具体实施方式

为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。