[发明专利]一种电子设备红外监测系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备监测技术领域，尤其涉及一种电子设备红外监测系统。

背景技术

现代社会，人们对电子设备的可靠性、稳定性以及可维修性有了更高的要求，随着现代工业的不断发展，尤其是计算机技术的飞速发展与应用，电子设备的结构越发复杂，设备中不同组成部分的联系越来越紧密，设备中某一部分存在故障往往会引起一系列连锁不良反应。为了提高电子设备的可靠性，故障诊断技术开始出现。传统的故障诊断往往是基于电信号，在检测设备故障时，常要拆卸设备，进行直接接触探测，但是，由于设备结构的复杂性，其中存在测试时接近方式的限制；而且，测试的同时，也可能对设备的涂层、线路等造成破坏。直接接触探测仅适用于结构不太复杂的电子设备，对大型复杂电子设备进行故障诊断定位是比较困难的。

发明内容

本发明的目的在于通过一种电子设备红外监测系统，来解决以上背景技术部分提到的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种电子设备红外监测系统，其包括红外图像采集装置、图像处理装置及存储装置；

所述红外图像采集装置与图像处理装置连接，用于采集电子设备工作时的红外热图像，并预先采集电子设备正常工作时的红外热图像，输出给图像处理装置和存储装置；

所述图像处理装置与存储装置连接，用于对红外热图像进行包括滤波降噪、目标增强、亮度变换、温度直方图统计、图像配准与减影以及三维温度分布在内的图像处理过程，并将处理结果输出给存储装置；

所述存储装置与红外图像采集装置连接，用于对温度直方图统计结果、图像配准与减影结果以及三维温度分布信息完成统计信息存储。

特别地，所述滤波降噪具体包括：通过均值滤波、中值滤波以及小波变换对红外热图像进行去噪，得到去噪后的图像。

特别地，所述目标增强具体包括：基于USM方法进行图像对比度增强。

特别地，所述亮度变换具体包括：调节整幅图像中像素点的亮度值。

特别地，所述温度直方图统计具体包括：统计图像中各像素点的温度信息，并绘制温度直方图，分析温度信息变化是否异常。

特别地，所述图像配准与减影具体包括：对温度信息变化异常的红外热图像采用基于互信息测度与演化算法的图像配准，与电子设备正常工作时的红外热图像进行减影运算，得出异常区域分布。

特别地，所述基于互信息测度与演化算法的图像配准具体包括：一、对于某一参考图像的待配准图像，定义一个统一的坐标系，以此确定图像间的空间变换形式；二、对参考图像和待配准图像做预处理，并初始化配准参数；三、依据配准参数对待配准图像进行空间几何变换，计算待配准图像与参考图像的互信息值；四、通过演化算法优化配准参数，查找最大互信息值，并迭代执行步骤三和步骤四；五、输出最优化配准参数，再利用灰度插值得到配准图像。

特别地，所述三维温度分布具体包括：将带有温度信息的图像绘制成三维温度分布图。

特别地，所述红外图像采集装置选用红外热像仪。

特别地，所述图像处理装置及存储装置选用计算机。

本发明提供的电子设备红外监测系统通过采集电子设备在通电工作情况下的红外热图像，对图像中的温度数据进行处理，判断电子设备是否存在潜在故障，并迅速找出异常工作区域。本发明通过非接触式的测量，可以在复杂电子设备工作的情况下实现故障监测，判断复杂电子设备是否存在故障，并对故障所在区域提供指向，不仅可以预警，而且对故障分析也具有良好的指向性，应用范围广，可检测多种电子设备，对操作人员的技术要求低，简单易用。

附图说明

图1为本发明实施例提供的电子设备红外监测系统结构框图；

图2为本发明实施例提供的电子设备红外监测系统数据处理流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。

请参照图1和图2所示，本实施例中电子设备红外监测系统包括红外图像采集装置101、图像处理装置102及存储装置103。