[发明专利]OLED面板显示缺陷修复方法在审
申请号: | 201410133355.8 | 申请日: | 2014-04-03 |
公开(公告)号: | CN104978916A | 公开(公告)日: | 2015-10-14 |
发明(设计)人: | 朴章镐 | 申请(专利权)人: | 四川虹视显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 周永宏 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | oled 面板 显示 缺陷 修复 方法 | ||
技术领域
本发明属于OLED显示技术领域,具体涉及一种OLED面板显示缺陷修复方法。
背景技术
OLED面板在完成老化制程后,需要对其显示显示缺陷进行检查标记,并对可修复的显示缺陷进行修复。目前常用的检查修复方法是:首先,人工手持显微镜进行显示缺陷检查;然后,将显示缺陷部分标示出;第三步,将标示出的基板转移至激光修复台上再次对显示缺陷部分定位;第四步,对显示缺陷部分进行激光修复。这种检查修复方法虽然操作简单,容易上手而得到广泛应用,但同时存在一些明显显示缺陷,一方面,对显示缺陷部分重复定位,影响OLED面板显示缺陷的检查修复效率;另一方面,重复定位的准确率依赖人工因素,对操作人员的要求较高且人为地影响了OLED面板的产品良率。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的上述问题,提供一种检查修复效率高且能修复精准的OLED面板显示缺陷修复方法。
为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:
一种OLED面板显示缺陷修复方法,其特征在于,包括如下步骤:当需要进行OLED面板显示缺陷修复时,首先,将OLED面板用真空固定于真空吸附平台上;然后,用点灯系统将OLED面板点亮,此时,通过点亮的OLED基板,可确定可修复性的显示缺陷的大致位置,并对显示缺陷予以标记;第三步,调节显示缺陷检查装置的可调节平台使显微镜移至上一步所标记的显示缺陷的正上方,调节显微镜对显示缺陷进行准确定位,并通过显示装置获取显示缺陷的图像信息;第四步,将激光发生器打开,在显示装置的实时监控和指导下,利用发射的激光束对显示缺陷进行精准修复。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明的OLED面板显示缺陷修复方法通过将激光发生器的激光头与显示缺陷检查装置的显微镜镜头重叠,避免了对OLED面板显示缺陷的重复定位,显示缺陷检查到后,无需移动OLED面板即可直接进行修复,不但提高修复效率,同时提高OLED面板显示缺陷的修复的准确率。
附图说明
图1示为本发明的OLED面板显示缺陷修复方法的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,本实施例中的OLED面板显示缺陷修复方法包括真空吸附平台1,点灯系统2,显示缺陷检查装置3和激光发生器4,其中,显示缺陷检查装置3包括显示装置31、显微镜32、CCD和可调节平台,显微镜32固定于可调节平台上并通过CCD将图像显示于显示装置31上;激光发生器4的激光头与显示缺陷检查装置3的显微镜32镜头重叠,OLED面板显示缺陷修复时,显微镜32位于真空吸附平台1的正上方。
当需要进行OLED面板显示缺陷修复时,首先,将OLED面板用真空固定于真空吸附平台1上;然后,用点灯系统2将OLED面板点亮,此时,通过点亮的OLED基板,可确定可修复性的显示缺陷的大致位置,并对显示缺陷予以标记;第三步,调节显示缺陷检查装置3的可调节平台使显微镜32移至上一步所标记的显示缺陷的正上方,调节显微镜对显示缺陷进行准确定位,并通过显示装置31获取显示缺陷的图像信息;第四步,将激光发生器打开,在显示装置31的实时监控和指导下,利用发射的激光束对显示缺陷进行精准修复。
为了便于操作,本实施例中的点灯系统2设计为可移动式的。
可见,本实施例中的OLED面板显示缺陷修复方法避免了显示缺陷的重复定位,能够有效提高显示缺陷的修复效率和准确率。
尽管这里参照本发明的最佳解释性实施例对本发明进行了描述,但是,应该理解,本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式,这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。更具体地说,在本申请公开、附图和权利要求的范围内,可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变型和改进外,对于本领域技术人员来说,其他的用途也将是明显的。
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