[发明专利]β吸收式测尘仪用自动定标方法

权利要求书

1.一种β吸收式测尘仪用自动定标方法，其特征在于，它包括如下步骤：

步骤1：针对空白滤膜，通过探测器对β放射源穿过该空白滤膜单位面积 的辐射强度连续进行Q次脉冲个数计数，其中，Q为偶数，每次脉冲个数计数 时间为Tq；

步骤2：对该Q次脉冲个数计数中任取次计数的脉冲个数求取平均值后 记为Na，然后对其余次计数的脉冲个数求取平均值、再减去差值C后记为 Nb：

步骤3：选择工作精度确认基准，以进行定标：

若以标准膜片的单位面积质量Δm为工作精度确认基准，则根据质量吸收 系数标准值k，通过公式计算出等效膜片的单位面积质量Δm’，对 该等效膜片的单位面积质量Δm’与该标准膜片的单位面积质量Δm进行比较： 若该标准膜片的单位面积质量Δm与该等效膜片的单位面积质量Δm’的差值 百分比的绝对值超过3‰，则认为该β吸收式测尘仪的工作精度不能满足使用 要求，反之，则认为该β吸收式测尘仪的工作精度能满足使用要求；

若以该质量吸收系数标准值k为工作精度确认基准，则根据该标准膜片的 单位面积质量Δm，通过公式计算出质量吸收系数实际值k’，对该 质量吸收系数实际值k’与该质量吸收系数标准值k进行比较：若该质量吸收系 数标准值k与该质量吸收系数实际值k’的差值百分比的绝对值超过3‰，则认 为该β吸收式测尘仪的工作精度不能满足使用要求，反之，则认为该β吸收式 测尘仪的工作精度能满足使用要求；

其中：该差值C基于步骤a和步骤b，通过公式C＝Nc-Nd求出：

步骤a：针对该空白滤膜，通过该探测器对该β放射源穿过该空白滤膜单 位面积的辐射强度连续进行R1次脉冲个数计数，每次脉冲个数计数时间为Tr， 然后对该R1次计数的脉冲个数求取平均值后记为Nc，

步骤b：将单位面积质量为Δm的该标准膜片放在该空白滤膜上方，针对 放有该标准膜片的该空白滤膜，通过该探测器对该β放射源穿过该标准膜片和 该空白滤膜的单位面积的辐射强度连续进行R2次脉冲个数计数，每次脉冲个 数计数时间为Tr，然后对该R2次计数的脉冲个数求取平均值后记为Nd。

2.如权利要求1所述的自动定标方法，其特征在于：

所述次数Q大于等于6次，所述脉冲个数计数时间Tq的取值范围为2分 钟～5分钟。

3.如权利要求2所述的自动定标方法，其特征在于：

在所述Q次脉冲个数计数中，对第奇数次计数的脉冲个数求取平均值后记 为Na，对第偶数次计数的脉冲个数求取平均值、再减去所述差值C后记为Nb。

4.如权利要求1至3中任一项所述的自动定标方法，其特征在于：

所述质量吸收系数标准值k通过手动定标作业求出。