[发明专利]发光二极管及其制造方法有效
申请号: | 201410138137.3 | 申请日: | 2014-04-08 |
公开(公告)号: | CN104103726B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 纪喨胜;陈佩佳;陈之皓 | 申请(专利权)人: | 晶元光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/00;H01L21/78 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
1.一发光二极管,包含:
基板,该基板包含一上表面、一底面相对于该上表面以及一侧表面;
第一型态半导体层,位于该上表面上,其中该第一型态半导体层包含第一部分以及第二部分,且该第二部分包含一边缘围绕该第一部分;
发光层,在该第一部分上;以及
第二型态半导体层,在该发光层上,
其中,该第二部分包含第一表面以及第二表面,在该第一表面以及该上表面之间具有第一距离,在该第二表面以及该上表面之间具有第二距离小于该第一距离,
其中,该第一表面与该第二表面具有不同粗糙度,且该第二表面位于该边缘。
2.如权利要求1所述的发光二极管,其中该基板包含透明基板。
3.如权利要求1所述的发光二极管,其中该第二表面的宽度介于5μm~15μm。
4.如权利要求1所述的发光二极管,其中该第一距离比该第二距离大
5.如权利要求1所述的发光二极管,其中该第一表面包含第一平均粗糙度(Ra)大于100nm,及/或该第二表面包含第二平均粗糙度(Ra)介于10nm~100nm。
6.如权利要求1所述的发光二极管,还包含反射层在该底面上。
7.如权利要求1所述的发光二极管,还包含破坏区域,位于该侧表面上,且该破坏区域与该上表面及该底面之间具有一距离。
8.如权利要求1所述的发光二极管,其中该第一表面比该第二表面粗糙。
9.一种制造发光二极管的方法,包含:
提供一基板;
提供一半导体叠层在该基板上,其中该半导体叠层自该基板开始依序包含一第一形态半导体层、一发光层及一第二形态半导体层;
图形化该第二形态半导体层、该发光层及该第一形态半导体层,以露出该第一形态半导体层的第一表面;
处理该第一表面的一部分以形成一第二表面,其中该第一表面的另一部分与该第二表面具有不同粗糙度;以及
提供一激光束穿透过该第二表面以切割该基板。
10.如权利要求9所述的制造发光二极管的方法,其中该激光束聚焦于该基板内部以形成一破坏区域在该基板内部,该破坏区域位于该第二表面之下。
11.如权利要求9所述的制造发光二极管的方法,其中该激光束通过该第一表面的该另一部分时会散射。
12.如权利要求9所述的制造发光二极管的方法,其中该第二表面比该第一表面的该另一部分平坦。
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