[发明专利]一种TDI红外探测器扫描成像系统扫描速率评估方法有效
申请号: | 201410138663.X | 申请日: | 2014-04-08 |
公开(公告)号: | CN104050356B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 闫秀荣;马文坡;聂云松;李岩;李昊谦 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00;G01M11/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tdi 红外探测器 扫描 成像 系统 速率 评估 方法 | ||
1.一种TDI红外探测器扫描成像系统扫描速率评估方法,其特征在于实现步骤如下:
(1)采用两点法对扫描成像系统输出的四杆靶标图像进行非均匀校正,在每杆靶标图像中对第n元红外探测器的靶标图像边缘,即从暗条纹到亮条纹部分和从亮条纹到暗条纹部分均选取暗条纹5~10列、亮条纹5~10列的图像,对选取的数据通过三次样条函数对数据进行10倍插值;对第n+1元红外探测器的靶标图像边缘,即从暗条纹到亮条纹部分和从亮条纹到暗条纹部分均选取暗条纹5~10列、亮条纹5~10列的图像,对选取的数据通过三次样条函数对数据进行10倍插值;
(2)对步骤(1)中校正后的的四杆靶标图像,计算每杆亮条纹图像数据的均值,计算每杆暗条纹图像数据的均值;将每杆暗条纹和亮条纹图像的均值求差值,取差值的1/2并与暗条纹均值求和得到每杆靶标图像半功率点图像DN值;
(3)对步骤(1)中每杆靶标图像插值后的数据通过查找法,查找第n元和第n+1元红外探测器在步骤(2)中半功率点图像DN值处对应的列数Kn和Kn+1;计算Kn+1与Kn绝对值差ΔK;
(4)通过步骤(3)中的ΔK计算扫描速率偏差,计算公式如下:
式(1)中:△V:扫描速率偏差;
V:标称扫描速率;
△K:探测器奇偶元图像位置偏差;
d:探测器奇元与偶元间距与成像系统采样间距的比值;
根据式(1)计算出扫描成像系统的扫描速率相对偏差,计算公式如下:
当△K为0时,即△V为0,此时扫描速率与系统焦距、积分时间参数完全匹配;当△K为非0时,△V亦为非0,即扫描速率与系统焦距、积分时间参数不完全匹配;
(5)利用四杆靶标每次只能测试扫描视场的一部分,为了对整个扫描视场的扫描速率进行评估,利用调整机构使成像系统绕扫描镜转轴旋转,使不同的扫描视场能够对准平行光管的中心视场。
2.根据权利要求1所述的TDI红外探测器扫描成像系统扫描速率评估方法,其特征在于:所述步骤(5)中的调整机构为一个旋转平台,旋转平台上安装扫描成像系统,旋转平台的转轴与扫描镜转轴共轴,利用手动摇把实现旋转平台绕转轴旋转。
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