[发明专利]一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置在审
申请号: | 201410140579.1 | 申请日: | 2014-04-09 |
公开(公告)号: | CN104089812A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | 朱慧;刘琨;冯士维;郭春生 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01N3/02 | 分类号: | G01N3/02 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 纪佳 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 薄膜 样品 施加 均匀 应力 四点 装置 | ||
1.一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,其包括旋钮(1)、下辊台(2)、上辊架(3)、螺钉(4)、样品(5)、高度可调平台(6)、压力传感器(7)、支架(8)和底座(9),其中,
上辊架(3)和支架(8)的数量各为两个,所述的支架(8)位于底座(9)上,上辊架(3)位于支架(8)的上端,两个支架(8)相对放置,高度可调平台(6)固定在两个支架(8)之间,下辊台(2)安装在高度可调节平台(6)上,下辊台(2)和高度可调节平台(6)之间连接有压力传感器(7)与外接的数字显示器相连接;所述的上辊架(3)有两个上辊,所述的下辊台(2)有两个下辊,所述的样品(5)放在下辊台(2)与上辊架(3)之间;通过高度可调节平台(6)调节下辊和上辊之间的距离,从而调节加载在样品(5)上的压力的大小;
所述的旋钮(1)用以调节高度可调节平台(6)的升降高度。
2.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的下辊台(2)、上辊架(3)、螺钉(4)、高度可调平台(6)、支架(8)和底座(9)的材质全为钢。
3.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的旋钮(1)上标有刻度,精度为0.02mm。
4.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的压力传感器(7)精度为0.1%,供电电压为直流电压12V,工作温度为-20℃-60℃。
5.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的压力传感器(7)位于高度可调平台(6)的中央。
6.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,螺钉(4)将上辊架(3)固定在支架(8)上,螺钉(4)将支架(8)固定在底座(9)。
7.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的上辊架(3)的两个上辊之间的距离为22mm,下辊台(2)上两个下辊之间的距离8mm。
8.根据权利要求1所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的下辊台(2)底部中心有一个凹槽,可以与压力传感器7紧密接触,保证所测压力的准确性与稳定性。
9.根据权利要求1或2所述的一种用于对薄膜样品施加均匀应力的四点法装置,其特征在于,所述的样品(5)通过上辊架(3)和下辊台(2)的作用,样品(5)发生纯弯曲。
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