[发明专利]网卡芯片测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术，尤其涉及一种网卡芯片测试方法及系统。

背景技术

以太网网卡芯片均符合电气和电子工程师协会（Institute of Electrical and Electronics Engineers，简称IEEE）的以太网802.1X协议，并使用IEEE协会的网卡测试治具进行测试，各芯片厂商在芯片出厂之前，会将网口测试数据包写到芯片的初始化驱动里面。

通用的网卡测试方法为通过修改寄存器，使网卡芯片发出相应的测试数据包，经过RJ45接口，用网线接到IEEE协会的以太网网卡芯片测试治具上，100M网卡的测试在网卡芯片测试治具中的TC6模块上，1000M网卡的测试在网卡芯片测试治具中的TC2模块上进行，用差分探棒连接到示波器上，再用配套软件进行信号完整性分析。

然而，有时候即使修改寄存器数值，仍会出现网卡芯片无法发出测试数据包的问题，导致测试无法进行，并且现有技术的网卡芯片测试方法需要专业软件人员配合，测试成本较高，在缺少专业软件人员时则无法进行测试。

发明内容

本发明提供一种网卡芯片测试方法及系统，用以避免由于网卡芯片无法发出测试数据包导致的网卡芯片无法测试的问题，并且不需要专业软件人员就能完成网卡芯片的测试，节省人力物力，提高工作效率。

本发明第一方面，提供一种网卡芯片测试方法，包括：

设置辅助测试设备，以使所述辅助测试设备发出测试数据包；

将所述辅助测试设备的网口与网卡芯片测试治具的TC6模块上的网口J701连接；

将待测试设备的网口与所述TC6模块上的网口J800连接；

通过所述待测试设备和探棒将所述测试数据包引出到示波器上。

本发明第二方面，提供一种网卡芯片测试系统，包括：辅助测试设备、网卡芯片测试治具、待测试设备以及示波器；

所述辅助测试设备，用于发出测试数据包；

所述辅助测试设备的网口与所述网卡芯片测试治具的TC6模块上的网口J701连接，所述待测试设备的网口与所述TC6模块上的网口J800连接；

所述待测试设备和所述探棒用于将所述测试数据包引出到所述示波器上。

本发明提供的网卡芯片测试方法及系统，通过设置辅助测试设备，以使所述辅助测试设备发出测试数据包；将所述辅助测试设备的网口与网卡芯片测试治具的TC6模块上的网口J701连接；将待测试设备的网口与所述TC6模块上的网口J800连接；通过所述待测试设备和探棒将所述测试数据包引出到示波器上，实现对待测试设备强制发送测试数据包，可以避免由于网卡芯片无法发出测试数据包导致的网卡芯片无法测试的问题，并且不需要专业软件人员就能完成网卡芯片的测试，节省人力物力，提高工作效率。

附图说明

图1为本发明提供的网卡芯片测试方法实施例一的流程图；

图2为本发明提供的网卡芯片测试方法实施例二的流程图；

图3为本发明提供的网卡芯片测试方法实施例三的流程图；

图4为本发明提供的网卡芯片测试系统实施例一的结构示意图。

具体实施方式

图1为本发明提供的网卡芯片测试方法实施例一的流程图，如图1所示，本实施例的网卡芯片测试方法包括：

S101、设置辅助测试设备，以使辅助测试设备发出测试数据包。

具体来说，本实施例的辅助测试设备可以是经测试后可以正常发出测试数据包的电脑或者示波器，可以通过对辅助测试设备的属性进行设置，使得辅助测试设备发出测试数据包。

S102、将辅助测试设备的网口与网卡芯片测试治具的TC6模块上的网口J701连接。

S103、将待测试设备的网口与TC6模块上的网口J800连接。

S104、通过待测试设备和探棒将测试数据包引出到示波器上。

具体来说，网卡芯片测试治具可以是IEEE协会的标准网卡芯片测试夹具，网卡芯片测试夹具的TC6模块上有两个网口J701和J800，辅助测试设备发出的测试数据包通过TC6模块的网口J701的发送模块（TX）给到网口J800连接的待测试设备的网口的接收模块（RX），然后由待测试设备的网口的TX发出测试数据包，再由探棒将测试数据包引出到示波器上。