[发明专利]缺陷电连接的检测

说明书

技术领域

本发明的实施例涉及集成电路，具体地涉及到集成电路的电连接，即将芯片（裸片）与外部管脚连接的铜夹或键合接线。

背景技术

为了共享电流负载，若干电连接可以被布置为并联连接。然而，如果到集成电路的电连接中的一个变得有缺陷，断裂或者脱落，那么到集成电路的电流穿过剩余电连接输送，这可能最终使电路遭到破坏，并且因此导致其中嵌入有集成电路的模块或设备的故障。

发明内容

本发明的第一实施例涉及一种集成电路，该集成电路包括至少两个电连接、以及与至少一个电连接相邻地布置的至少一个线圈，其中至少一个线圈中的每个都包括至少一个绕组，并且其中至少一个线圈被布置在集成电路上或在集成电路中。

集成电路涉及半导体设备，该半导体设备可选地包括键合到衬底或电路板的无源组件。集成电路也可以指连接到例如芯片外壳的管脚的芯片或硅片（即裸片）。

线圈可以具体地包括一个绕组或多个绕组；线圈优选地为开放，从而可以确定在线圈端部处的电压；这一电压可以基于电磁感应。流经电连接的电流改变它附近的磁场；该改变可以由所述线圈检测到，这提供基于电流的改变的电压。如果连接中的一个突然故障，引起电流的改变，这能够被检测到并且进一步经由所述至少一个线圈处理。

注意，本文所指的“并联连接”针对彼此并联电连接的连接，即，从而电流被分为若干（相等的）电流部分，每个这一部分通过（完好的）并联连接中的一个来输送。

第二实施例涉及用于确定到集成电路的有缺陷的电连接的设备；其中设备被布置用于经由在电连接附近至少一个线圈中感应的电压，来确定在若干并联电连接中的电流改变；并且设备被布置用于基于在至少一个线圈中感应的电压，来确定若干并联电连接中的哪个有缺陷。

第三实施例涉及一种用于确定到集成电路的有缺陷的电连接的方法，其中经由在位于电连接附近的至少一个线圈中感应的电压，在若干并联电连接中的电流改变得以确定；并且其中基于在至少一个线圈中感应的电压，若干并联电连接中的哪个有缺陷得以确定。

第四实施例针对一种用于确定到集成电路的有缺陷的电连接的设备，该设备包括比较器件，该比较器件用于将来自连接到集成电路的与至少一个电连接相邻地布置的至少一个线圈的信号与参考信号比较；并且包括处理逻辑，所述处理逻辑连接到比较器件的输出，其中所述处理逻辑提供取决于在至少一个线圈中感应的电压的输出信号。

第五实施例涉及一种用于确定有缺陷的电连接的系统，该系统包括若干电连接，该电连接并联地连接到集成电路；该系统包括至少一个线圈，其被布置在集成电路上或在集成电路中，与若干电连接中的至少一个相邻；并且包括设备，所述设备用于在若干电连接中确定有缺陷的电连接；其中设备被布置用于经由在至少一个线圈中由至少一个相邻电连接所感应的电压，来确定在并联电连接的至少一个中的电流改变；并且该设备被布置用于基于在至少一个线圈中感应的电压，来确定若干并联电连接中的哪个有缺陷。

第六实施例针对一种用于确定到集成电路的有缺陷的电连接的系统，该系统包括用于经由在位于电连接附近的至少一个线圈中感应的电压，来确定在若干并联电连接中的电流改变的器件；并且包括用于基于在至少一个线圈中感应的电压，来确定若干并联电连接中的哪个有缺陷的器件。

第七实施例涉及一种用于确定有缺陷的电连接的系统，该系统包括若干电连接，其连接到若干集成电路；至少一个线圈，其被与电连接的至少一个相邻地布置；设备，用于在若干电连接中确定有缺陷的电连接。该设备被布置用于经由在至少一个线圈中由至少一个相邻电连接所感应的电压，来确定在电连接的至少一个中的电流改变；并且设备被布置用于基于在至少一个线圈中感应的电压，来确定若干并联电连接中的哪个有缺陷。

电连接可以被应用到一个集成电路（即，芯片或裸片）或若干集成电路，其中若干集成电路相互并联电连接。这允许确定在若干集成电路之间的电流改变。还有一个选项是，到这些集成电路中的每个集成电路的每个连接都包括至少一个（具体地为若干个）键合接线。

附图说明

参照附图示出并描述本发明的实施例。附图用于说明基本原理，因此仅图示用于理解基本原理的必要方面。附图未按比例绘制。在附图中，相同的标号表示相似的特征。

图1示出位于芯片的接触区域内的键合接线以及用于基于在与所述键合接线相邻地布置的线圈中感应的电压来产生输出信号的处理电路的示意图布置；

图2示出用于测量并处理由线圈检测到的信号的示例性电路图；

图3示出包括以平面方式被布置在键合的两侧的线圈的示例性实施方式；