[发明专利]用于在ATE上进行向量控制的测试的方法和设备

说明书

提供了用于在ATE上进行向量控制的测试的方法和设备。在一种实施例中，提供了用于图案控制的测试的方法，包括：(a)接收用户创建的、表示将由测试设备执行的命令的代码；(b)确定这些代码所指示的一个或多个事件的类型；(c)针对这些类型中的每一类型创建向量标签；(d)基于这些事件中的每一事件的类型将其插入向量标签；以及(e)将向量标签置入串中。

技术领域

本公开的实施例一般地涉及在自动测试设备(ATE)中执行的测试，并且更具体地涉及用于以向量控制(pattern-controlled)的方式执行的测试的方法和装置。

背景技术

在电子器件投入市场之前，需要对其进行测试。对在现代工厂中大量生产的那些器件而言，自动测试设备(ATE)被用于测试这些器件，以使得有缺陷的产品不被发出。ATE通常具有若干仪器(instrument)，被测器件(DUT)被安放在这些仪器上并且被测试。对DUT执行的测试可以涉及一系列操作，其中，可以向DUT(通常在一个或多个特定引脚处)输入一个或多个信号或激励，并且可以从DUT中(同样，通常在一个或多个引脚处)输出一个或多个信号或响应。可以以特定的时间序列实行对各种信号的输入和输出。所输出的信号可以受到分析以判断DUT是否按照所期望的那样运转，并且继而判断DUT是否有缺陷，或者确定DUT的规格。如果存在缺陷，这一分析的结果还可以有助于定位缺陷并且相应地调整制造工艺。

对现代电子器件的测试可能需要一系列复杂的操作。例如，为了判断GSM系统中的射频(RF)收发芯片在接收到激励时是否会有适当的输出，可以对样品芯片进行测试，该测试可以包括一系列操作，例如：

-向芯片的“LAN”引脚发送-20dBm、850MHz的GSM信号；

-等待2ms；

-以1MHz的采样频率(FS)在芯片的“BB”引脚处采集1024个点；

-在芯片的“VDD”引脚中加上3V直流(DC)电压；

-在芯片的“Vref”引脚处测量电压；以及

-在芯片的“DPO”引脚中采集100个样本。

传统上，对于上面的示例性测试，可以通过两种途径实现。第一种是如图1中所示的所谓的CPU控制的测试。以这种途径，工程师或用户使用在工作站上运行的、基于高级语言(例如，C++)应用编程接口(Application Programming Interface，API)的调试工具和环境创建代码。这些代码表示要由ATE执行以实行上面的一系列操作的命令。这些命令随后在测试过程中经由工作站和ATE之间的总线被传输，并且使得ATE(或者其仪器中的一个或多个)通过实行这一系列操作来执行测试。

另一种传统途径是如图2中所示的向量控制的测试。以这种途径，用户通常通过图形用户界面(GUI)在工作站上创建命令列表，以设置ATE的各种组件。然后这些命令被一次性地下载到ATE中的向量控制器中，并且由向量控制器进行对齐(align)，以使得组件可以按这些命令中所指定的适当的时序运转。在测试期间，经对齐的命令将由每一仪器中的测试处理器实现。

发明内容

CPU控制的测试的途径使得用户易于对测试进行编程和调试。然而，命令不得不在测试过程中通过总线传输到ATE，这可能使总线的负荷过重并且导致可能影响测试时间和可靠性。与之相比，向量控制的测试提供了一种快速并且可靠的选择；然而，通过这种途径，用户不得不通过基于GUI的工具来设置测试，这种工具通常包括若干窗口或窗体(form)，这些窗口或窗体分别针对测试的不同方面，并且用户的注意力被低级子系统命令的细节和各种GUI窗口分散了。这使得对测试进行设置和调试非常困难。