[发明专利]磁角度位置传感器有效

专利信息
申请号: 201410155748.9 申请日: 2014-03-14
公开(公告)号: CN104048594B 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: A·F·茨威泽;K·E·范奥斯特兰德 申请(专利权)人: 森萨塔科技公司
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李向英
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 角度位置传感器 磁场分量 测量 关联
【权利要求书】:

1.一种测量方法,其特征在于包括:

测量与包含在磁角度位置传感器中的多个磁体相关联的多个磁场分量,所述多个磁场分量包括:

x磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bx;

y磁场方向中的多个磁体的磁场的强度By;及

z磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bz,其中所述x磁场方向、y磁场方向和z磁场方向是相对于以下点而言的:Bx、By和Bz从该点进行测量;

基于所测量的磁场分量确定第一角度,所述第一角度表示与所述多个磁体中的第一磁体相关联的角度位置;

基于所测量的磁场分量确定第二角度,所述第二角度表示与所述多个磁体中的第二磁体相关联的角度位置;

基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第一磁体的位置;

基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第二磁体的位置。

2.如权利要求1所述的方法,其中使用传感设备来测量所述磁场分量。

3.如权利要求2所述的方法,其中所述传感设备是三维(3D)霍尔效应传感器。

4.如权利要求1所述的方法,其中所述第一磁体的所确定的位置包括所述第一磁体相对于所述x磁场方向、y磁场方向和z磁场方向的位置。

5.如权利要求1所述的方法,其中所述第二磁体的所确定的位置包括所述第二磁体相对于所述x磁场方向、y磁场方向和z磁场方向的位置。

6.一种测量设备,其特征在于包括:

多个磁体;

用于测量与所述多个磁体相关联的多个磁场分量的传感器,所述多个磁场分量包括:

x磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bx;

y磁场方向中的多个磁体的磁场的强度By;及

z磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bz,其中所述x磁场方向、y磁场方向和z磁场方向是相对于以下点而言的:Bx、By和Bz从该点进行测量;和

处理逻辑,用于:

基于所测量的磁场分量确定第一角度,所述第一角度表示与所述多个磁体中的第一磁体相关联的角度位置;

基于所测量的磁场分量确定第二角度,所述第二角度表示与多个磁体中的第二磁体相关联的角度位置;

基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第一磁体的位置;

基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第二磁体的位置。

7.如权利要求6所述的设备,其中使用传感设备测量所述磁场分量。

8.如权利要求7所述的设备,其中所述传感设备是三维(3D)霍尔效应传感器。

9.一种测量设备,其特征在于包括:

用于测量与包含在磁角度位置传感器中的多个磁体相关联的多个磁场分量的装置,所述多个磁场分量包括:

x磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bx;

y磁场方向中的多个磁体的磁场的强度By;及

z磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bz,其中所述x磁场方向、y磁场方向和z磁场方向是相对于以下点而言的:Bx、By和Bz从该点进行测量;

用于基于所测量的磁场分量确定第一角度的装置,所述第一角度表示与所述多个磁体中的第一磁体相关联的角度位置;

用于基于所测量的磁场分量确定第二角度的装置,所述第二角度表示与所述多个磁体中的第二磁体相关联的角度位置;

用于基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第一磁体的位置的装置;

用于基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第二磁体的位置的装置。

10.如权利要求9所述的设备,其中,使用传感设备测量所述磁场分量。

11.如权利要求10所述的设备,其中所述传感设备是三维(3D)霍尔效应传感器。

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