[发明专利]一种基于测试性建模数据的故障检测与隔离综合方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种基于测试性建模数据的故障检测与隔离综合方法，属于测试性技术领域。

背景技术

测试性建模是目前系统测试性设计分析的一种普遍采用的方法，通过测试性建模可以得到系统的相关性矩阵，进而实现故障检测与隔离能力的定量评价。

在相关性矩阵的基础上，通过的直接测试优选可以得到诊断树，利用诊断树提供的诊断步骤可实现系统故障的检测隔离。但在实际应用中，相关性矩阵中通常都包含机内测试（BIT）和人工测试，而机内测试是自动执行的，不受诊断步骤限制，导致利用上述方法获得的诊断树不能全面地利用机内测试的优势给出更高效和更完整的诊断。

目前，针对该问题，还没有一种有效的机内测试（BIT）和人工测试综合的故障检测与隔离方法。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述问题，提出一种基于测试性建模数据的故障检测与隔离综合方法，首先利用现有测试性建模方法获得系统的相关性矩阵（D矩阵），然后将其分解为BIT和人工测试的D矩阵，并建立相应的BIT故障字典和人工测试诊断树，最后综合应用故障字典和诊断树实现对系统的故障检测与隔离。

一种基于测试性建模数据的故障检测与隔离综合方法，具体包括以下几个步骤：

步骤一、建立系统的相关性矩阵；

利用系统的故障和测试数据，建立测试性模型并得到相关性矩阵，其表达式如（1）式所示：

式中，D表示相关性矩阵；F＝{F₁,F₂…F_m}表示被测对象的故障集合；BIT_i表示BIT测试，M_j代表人工测试，BIT_i/M_i表示该测试为BIT测试或人工测试，d_ij表明了F_i与BIT_i和M_j的相关性，即：

步骤二、根据得到的相关性矩阵，分解提取BIT相关性矩阵，并建立BIT故障字典；

步骤2.1根据步骤一得到D矩阵，从中分解出BIT相关性矩阵D₁；

具体过程为：把D矩阵中含有BIT_i的列提取出来构成D₁，D矩阵中剩余的部分组成人工测试相关性矩阵D₂，D₁和D₂表达式如下：

步骤2.2如果D₁有全0行，则删除该行，并将其对应故障F_i组成集合F₁⁽⁰⁾，合并矩阵中的模糊组得到矩阵D₁⁽¹⁾，并将D₁⁽¹⁾作为BIT故障字典；

步骤三、依据步骤一得到的相关性矩阵，对每个BIT隔离模糊组故障，建立BIT模糊组故障的人工测试相关性矩阵，并生成BIT模糊组故障的人工隔离诊断树；

包括以下几个步骤：

步骤3.1根据D₁⁽¹⁾得到了模糊组集合F⁽²⁾，F⁽²⁾中包含了若干个模糊组，F⁽²⁾＝{F₁⁽²⁾,F₂⁽²⁾,…,F_k⁽²⁾}，每个模糊组F_i⁽²⁾包含若干故障，对每一个模糊组都建立BIT模糊组故障的人工测试相关性矩阵，具体方法为：把D₂中每个F_i⁽²⁾对应的行提取出来，构成矩阵D_i⁽²⁾；

步骤3.2利用相关性建模分析的诊断策略生成方法，根据D_i⁽²⁾进行测试优选，针对每一个人工测试相关性矩阵生成BIT模糊组故障的人工隔离诊断树；

步骤四、对BIT的不可检测故障，依据步骤一得到的相关性矩阵，建立BIT不可检测故障的人工测试相关性矩阵，并生成BIT不可检测故障的人工检测隔离诊断树；

具体为：