[发明专利]大口径晶体材料光吸收系数测量装置

权利要求书

1.一种大口径晶体材料光吸收系数测量装置，其特征在于：所述装置中可调谐激光器（1）发出的光束经过激光稳功率系统（2）后形成功率稳定的准直的激光束，稳定的准直激光束经过分束器（3）后分为透射光和反射光两束，其中，反射光束被监视探测器（5）接收，透射光束经过起偏器（6）起偏后照射在大口径晶体样品（7）上，通过大口径晶体样品（7）的透射光束被测量探测器（11）接收，检偏器（10）在调试测量光束偏振态与大口径晶体样品（7）的o轴或e轴间的角度时使用，测量时移出光路，被大口径晶体样品（7）的反射的光束经分束器（3）后入射至准直CCD（4），以确保入射激光与大口径晶体表面的垂直性，自准直仪（9）对准晶体样品的侧面，确保大口径晶体o轴或e轴与台面的垂直性，准直CCD（4）、自准直仪（9）、监视探测器（5）和测量探测器（11）测得数据输出送入计算机（12），起偏器电控台（13）、检偏器电控台（14）、大口径晶体的样品载台（8）受计算机（12）控制。

2.根据权利要求1所述的一种大口径晶体材料光吸收系数测量装置，其特征在于：所述可调谐激光器(1)的输出光束波长为351nm。

3.根据权利要求1所述的一种大口径晶体材料光吸收系数测量装置，其特征在于：所述入射至大口径晶体样品（7）表面的激光束入射角为0度，且入射光束的偏振方向与大口径晶体的o轴或e轴平行。

4.根据权利要求1所述的一种大口径晶体材料光吸收系数测量装置，其特征在于：所述计算机(12) 先控制监视探测器(5)和测量探测器(11)同时采集不放大口径晶体样品（7）时输出激光的信号                                                和，再采集放有大口径晶体样品（7）时输出激光的信号和，通过公式（a）计算出大口径晶体样品的透射比τ，然后通过公式（b）精确计算被测大口径晶体样品（7）对o轴光或e轴光的吸收系数k；

                                                   （a）

                                          （b）

其中，，

式中ρ为大口径晶体样品(7)的反射系数，n为大口径晶体样品(7)的折射率，l为大口径晶体样品(7)的长度，τ为大口径晶体样品(7)的透射比。