[发明专利]石墨烯薄膜生长用铜箔的处理方法及该方法制备的铜箔有效
申请号: | 201410164674.5 | 申请日: | 2014-04-22 |
公开(公告)号: | CN105018897B | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 金虎;邓科文;刘志成;彭鹏;张志华;张文国;杨海涛;张旭磊;齐轩 | 申请(专利权)人: | 常州二维碳素科技股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/02 | 分类号: | C23C16/02;C25F3/22;B08B7/00 |
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地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 石墨 薄膜 生长 铜箔 处理 方法 制备 | ||
1.一种石墨烯薄膜生长用铜箔的处理方法,包括如下步骤:
(1)等离子预处理:该处理过程分两步进行,首先,将剪裁好的铜箔坯料置于真空等离子清洗机中,通一定流量的氧气,进行第一次等离子除污处理;然后,将等离子清洗机抽真空,然后通入一定流量的氢气,进行第一次等离子去氧化层处理;
(2)将已除去氧化层的铜箔坯料进行电化学抛光后;
(3)再次进行等离子处理,以得到所述石墨烯薄膜生长用铜箔。
2.根据权利要求1所述的处理方法,其特征在于,所述步骤(1)和步骤(3)中的等离子去氧化层处理的方法为:通过还原性气体离化成具有还原性的等离子体,以除去所述铜箔坯料的表面氧化层。
3.根据权利要求2所述的处理方法,其特征在于,进行所述步骤(1)的去氧化层处理时,进入等离子体发生器的还原性气体的流量不小于50sccm,等离子处理时间不少于100s 。
4.根据权利要求2所述的处理方法,其特征在于,进行所述步骤(3)的等离子去氧化层处理时,进入等离子体发生器的还原性气体的流量不小于100sccm,等离子处理时间不少于120s 。
5.根据权利要求1-4任一所述的处理方法,其特征在于,所述步骤(2)中电化学抛光的方法包括:将已除去氧化层的铜箔坯料作为阳极浸泡于电解液中,通电使阳极溶解;其中,所述电解液包括:磷酸体积浓度55%-70%,乙醇和/或丙酮的体积浓度5%-10%,乙酸和/或硫酸的体积浓度2%-5%,其余为水。
6.根据权利要求1或2所述的处理方法,其特征在于,所述处理方法还包括:对电化学抛光后的铜箔坯料进行清洗后,再利用惰性气体对该铜箔坯料进行吹干;或,在惰性气体保护下烘干。
7.一种石墨烯薄膜生长用铜箔,其特征在于,所述石墨烯薄膜生长用铜箔由权利要求1所述的石墨烯薄膜生长用铜箔的处理方法制成。
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