[发明专利]一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法

权利要求书

1.一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法，其特征在于用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法是按以下步骤进行：

一、取C纤维增强树脂基复合材料的试件，将平整表面用浓度为30％～98％的盐酸腐蚀40～80微米后，用去离子水将表面进行清洗；

二、将X射线应力测定仪经过初始化、高压预热后，放入步骤一腐蚀后的C纤维增强树脂基复合材料，然后进行单次曝光去背底、多次曝光测试，再计算，得出C纤维增强树脂基复合材料的残余应力；

三、重复步骤一和步骤二至得到各个深度的C纤维增强树脂基复合材料的残余应力，即完成C纤维增强树脂基复合材料的测定。

2.根据权利要求1所述的一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法，其特征在于步骤一中盐酸浓度为75％。

3.根据权利要求1所述的一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法，其特征在于步骤一中腐蚀60微米。