[发明专利]光学式非破坏检查方法以及光学式非破坏检查装置

权利要求书

1.一种光学式非破坏检查方法，其具有如下步骤：

加热用激光照射，其根据控制单元对加热用激光源进行控制，朝向设定在测定对象物上的测定点照射加热用激光；

放射红外线检测，其中通过所述控制单元，使用红外线检测单元对从所述测定点放射的光中取出的规定红外线波长的红外线进行检测；

温度上升特性测定，其中通过所述控制单元，基于由所述放射红外线检测步骤中检测出的检测值与作为所述加热用激光的照射时间的加热时间，对作为与加热时间对应的所述测定点的温度上升状态的温度上升特性进行测定，

所述光学式非破坏检查方法的特征在于，

所述光学式非破坏检查方法使用光学式非破坏检查装置来执行，

所述光学式非破坏检查装置具有：

加热用激光源，其射出设定为不破坏测定对象物地对测定对象物进行加热的输出的加热激光波长的加热用激光；

能够检测红外线的至少一个红外线检测单元；

控制单元，其对所述加热用激光源进行控制，并且获取来自所述红外线检测单元的检测信号；以及

存储单元，其存储有参数状态-时间常数特性，定义了与应该判定的测定对象物的状态对应的参数的状态，所述温度上升特性与该参数的状态对应地不同，所述参数状态-时间常数特性是表示所述温度上升特性的曲线形状的时间常数存在与所述参数的状态建立联系而成的。

2.根据权利要求1所述的光学式非破坏检查方法，其特征在于，还具有如下判定：

在所述控制单元中，基于测定出的所述温度上升特性中的所述曲线形状求得时间常数，并基于求得的时间常数与存储于所述存储单元的所述参数状态-时间常数特性，对测定对象物的所述参数的状态进行判定，其中，

求得所述时间常数时的所述曲线形状的解析对象区间是从加热开始时刻到直至饱和温度的时刻的区间，

所述饱和温度是指在相对于时间变化的温度变化的图线中图表的倾斜程度成为规定值以下的温度。

3.根据权利要求1所述的光学式非破坏检查方法，其特征在于，还具备如下判定：

在所述控制单元中，以测定出的所述温度上升特性中的所述饱和温度成为预先设定的标准化饱和温度的方式，使所述温度上升特性在温度方向上压缩或者伸长，求得标准化温度上升特性，

基于求得的所述标准化温度上升特性中的曲线形状求得时间常数或者与时间常数有关的信息，

基于求得的时间常数或者与时间常数有关的信息与存储于所述存储单元的所述参数状态-时间常数特性，对测定对象物的所述参数的状态进行判定，

求得所述时间常数或者与时间常数有关的信息时的所述曲线形状的解析对象区间是从加热开始时刻到达到所述标准化饱和温度的时刻。

4.根据权利要求3所述的光学式非破坏检查方法，其特征在于，

与所述时间常数有关的信息是在所述标准化温度上升特性中被温度上升曲线形状围起的区域的面积，

所述面积是针对在从加热开始时刻到达到所述标准化饱和温度的时刻的区域内被计算的。

5.根据权利要求1～4所述的光学式非破坏检查方法，其特征在于，

所述测定对象物是包括对两个部件进行接合的接合部的接合构造部位，

所述测定点设定于所述两个部件中的一个部件的表面，

所述参数的状态是所述两个部件的接合部的面积的大小，

在所述控制单元中，执行所述判定步骤，从而对所述两个部件的接合部的面积是否在允许范围内进行判定。

6.根据权利要求2所述的光学式非破坏检查方法，其特征在于，

使用能够显示基于来自所述控制单元的输出信号的图像的显示单元，

使与所述判定的结果有关的信息显示于所述显示单元。

7.一种光学式非破坏检查装置，其特征在于，

是实施权利要求1所记载的光学式非破坏检查方法的装置。