[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201410170910.4 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN104123967A 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 冈智博 申请(专利权)人: 艾普凌科有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于,包括:

时钟输入端子,输入时钟信号;

指令数据输入端子,输入指令数据;

数据输出端子,输出数据;

串联连接的多个数据寄存器,与所述时钟信号同步地将从所述数据输入端子输入的所述指令数据暂时保存;

指令解码器,判别所述多个数据寄存器输出的数据是正常指令还是测试指令,在所述数据为测试指令的情况下输出测试指令信号;

比较器,与所述时钟信号同步地比较输入到所述数据输入端子的指令数据和所述数据输出端子的数据,并将其检测信号输出;

闩锁电路,将所述比较器输出的检测信号设为置位信号;以及

逻辑电路,根据所述闩锁电路输出的信号,能够选择是否输出所述测试指令信号。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

所述比较器在所述时钟信号的上升沿时,比较输入到所述数据输入端子的指令数据和所述数据输出端子的数据。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,具备

第二比较器,在所述时钟信号的下降沿时,比较输入到所述数据输入端子的指令数据和所述数据输出端子的数据,

所述闩锁电路将所述比较器输出的检测信号和所述第二比较器输出的检测信号设为置位信号。

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