[发明专利]用于透射电镜的原位拉伸试样的制备方法有效
| 申请号： | 201410172126.7 | 申请日： | 2014-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN103954487A | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 刘嘉斌;陈陈旭;孟亮;曾跃武;王宏涛 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人： | 黄芳 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 透射 原位 拉伸 试样 制备 方法 | ||
【权利要求书】：
1.用于透射电镜的原位拉伸试样的制备方法，包括以下步骤：
1）、选取符合低指数带轴入射的区域：
（1.1）对样品进行电解抛光，使样品的厚度抛光到试验需要的厚度，样品的表面平整光亮洁净；
（1.2）用扫描电镜的背散射电子衍射技术测定各晶粒的取向，选定恰好符合低指数带轴的晶粒，并标记选定的晶粒；选定的晶粒作为符合低指数带轴入射的区域；
2）、使用聚焦离子束加工技术在选定的晶粒区域内预制一道裂口，在原位拉伸时，样品将在裂口处优先变形。
2.如权利要求1所述的用于透射电镜的原位拉伸试样的制备方法，其特征在于：裂口设置在由选定晶粒形成的直线上，裂口一端位于样品的边缘。
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