[发明专利]日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置及方法

权利要求书

1.日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征是，包括：

光源(1)；

暗箱(2)，位于所述光源(1)的前方，所述暗箱的侧面设置有一个入光口；

可伸缩屏蔽罩(3)，位于所述入光口和所述光源(1)之间；

陷阱探测器(4)，位于暗箱(2)内部，用于探测光源(1)的输出光电流；

屏蔽盒(6)，位于所述暗箱(2)内部，用于盛载待测像增强器(5)，对所述待测像增强器(5)进行有效电磁屏蔽；

静电计(10)，连接所述待测像增强器(5)的输出信号端，用于探测所述光源(1)通过待测像增强器(5)后的输出电信号。

2.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述光源(1)为高稳定mW级激光二极管，所述激光二极管沿同一高度按波长顺序水平放置。

3.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，还包括探测装置(9)，陷阱探测器(4)与探测装置(9)配合使用，所述陷阱探测器(4)的相对光谱响应度已知。

4.根据权利要求3所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述探测装置(9)为弱电流放大器。

5.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述屏蔽盒(6)材料为铁，可有效屏蔽静电，且表面喷有氧化铝黑色喷漆，防止反射杂散光。

6.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述静电计(10)的灵敏度小于等于10^-12A量级。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，还包括精密位移平台(7)，位于所述陷阱探测器(4)与所述屏蔽盒(6)的下方，用于控制所述陷阱探测器(4)与所述屏蔽盒(6)的位置，使所述陷阱探测器(4)与屏蔽盒(6)轮流对准所述暗箱(2)的入光口；

暗箱导轨(8)，位于所述暗箱(2)的下方，用于移动暗箱(2)的位置，使入光口依次对准所述光源(1)。

8.根据权利要求7所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置，其特征在于，所述精密位移平台(7)与所述暗箱导轨(8)均为电控位移台。

9.根据权利要求8所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置的方法，其特征在于，该方法由以下步骤实现：

步骤一、关闭暗箱(2)的入光口，使陷阱探测器(4)上无光照进入，测量所述陷阱探测器(4)的输出电信号作为暗电流噪声，将所述陷阱探测器(4)调零，对所述暗电流噪声进行补偿；打开暗箱(2)的入光口，调整陷阱探测器(4)对准暗箱(2)的入光口，所述陷阱探测器(4)探测所述光源(1)的输出光电流I₀(λ)；

步骤二、关闭所述暗箱(2)的入光口，使待测日盲紫外像增强器(5)上无光照进入，由所述静电计(10)测量待测像增强器(5)的输出电信号，即为暗电流噪声，将获得的暗电流噪声设定为静电计(10)的参考值；

步骤三、打开暗箱(2)的入光口，调节精密位移平台(7)使所述待测日盲紫外像增强器对准所述暗箱(2)的入光口，由所述静电计(10)测量光源(1)通过所述待测日盲紫外像增强器(5)的输出电流信号I_t(λ)；

步骤四、根据步骤一和步骤三获得的电流信号，计算像增强器带外相对光谱响应度：

式中，σ₀为陷阱探测器的相对光谱响应度。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，控制暗箱导轨(8)使暗箱(2)的入光口依次对准不同光谱的光源(1)，重复步骤一至步骤四，测量光源(1)不同光谱下的像增强器带外相对光谱响应度。