[发明专利]一种多模多待终端的电磁干扰测试方法在审

专利信息
申请号: 201410174225.9 申请日: 2014-04-28
公开(公告)号: CN103957540A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 张钦娟;安旭东;孙璨;陈晓晨;张运转;张博钧 申请(专利权)人: 工业和信息化部电信研究院;深圳电信研究院
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04B17/00
代理公司: 北京中知法苑知识产权代理事务所(普通合伙) 11226 代理人: 常玉明;张兰海
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 多模多待 终端 电磁 干扰 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种多模多待终端的电磁干扰测试系统,由测量天线、两组通信天线、两台基站模拟器和转台系统组成,其特征在于:信号传递关系为:在测试被测终端模组A对模组B的电磁干扰时,模组B对应的基站模拟器输出下行信号,通过测量天线辐射给被测终端,被测终端模组B的上行发射信号通过一组通信天线连接到模组B基站模拟器,从而在终端模组B与其基站模拟器之间建立起测试通信环路;另外,被测终端模组A与其基站模拟器之间通过另一组通信天线建立其通信环路;配合转台系统后,测量终端模组B在三维空间任意角度的接收灵敏度,并最终积分得到其总全向接收灵敏度;通过开关模组A基站模拟器,分别测量模组B在单发工作状态下以及与模组A双模并发工作状态下的接收灵敏度;通过上述测试系统和信号传递关系的设置,模拟多模多待终端的电磁干扰环境并测试多模多待终端的多个模组之间的干扰程度。

2.一种多模多待终端的电磁干扰测试方法,其特征在于:进行多模多待终端电磁干扰测试时,首先测量被测模组在单发状态的TIS,定位其天线接收灵敏度最强的空间方位和极化;然后在该空间方位和极化上,根据上一段提出的方法设置合适的基站下行发射功率,扫频测试被测模组在多模并发工作状态下的错误概率,找到其接收性能最差的信道;最后测试被测模组在多模并发状态下最差信道的TIS性能;通过对比多模并发状态下最差信道的TIS与其在单发状态下的TIS测试结果,得出被测模组受其它模组电磁干扰的程度;具体测试步骤如下:

1).关闭干扰模组A,测试被测模组B在单发状态下,在被测频段低、中、高信道的TIS;

2).根据步骤1测试结果,确定被测模组B在低、中、高信道区间的最优灵敏度点所对应的空间方位、测量天线的极化和基站下行前向功率;

3).打开干扰模组A,令其以最大功率发射,使终端工作在多模并发状态;

4).每个频点从低、中、高信道中选择一个最近的信道作为参考信道,然后依据参考信道的TIS测试结果确定基站下行功率;

5).在步骤2所确定的空间方位、天线极化和步骤4确定的基站下行功率条件下,扫频测量被干扰模组B在各个信道上的下行错误概率;

6).将错误概率最高的信道组合作为被测模组最差信道组合,测量多模并发状态在该信道组合时的TIS。

3.根据权利要求2所述的多模多待终端的电磁干扰测试方法,其特征在于:基站下行功率确定为该频点的参考信道在最优空间灵敏度方向上的单点灵敏度所对应的下行功率与一个回退因子之和;若最优单点灵敏度优于单待场景下的TIS限值,则回退因子等于TIS限值与参考信道最优单点灵敏度之差;否则,回退因子等于零。

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