[发明专利]以两个共振频率的HF激励方法、采集MR数据的方法和设备有效
申请号: | 201410177259.3 | 申请日: | 2014-04-29 |
公开(公告)号: | CN104142484B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | D.保罗;B.施米特 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01R33/54 | 分类号: | G01R33/54;G01R33/36;G01R33/483;G01N24/08;A61B5/055 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 为了 探测 cest 效应 两个 共振频率 进行 hf 激励 方法 | ||
1.一种为了探测CEST效应而借助磁共振设备(5)以两个共振频率(f1,f2)进行HF激励(25)的方法,
其中,利用磁共振设备(5)的第一HF天线(4)和第二HF天线(4′)实施所述HF激励(25),其中,利用第一HF天线(4)进行HF激励(25)的具有所述两个共振频率中的第一共振频率(f1)的第一部分,并且利用第二HF天线(4′)进行HF激励(25)的具有所述两个共振频率中的第二共振频率(f2)的第二部分。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用第一HF天线(4)和第二HF天线(4′)同时入射所述HF激励(25)。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述HF激励(25)借助第一HF天线(4)和第二HF天线(4′)以如下形状来进行:
·矩形脉冲
·高斯形脉冲,或
·sinc形脉冲。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述HF激励(25)借助第一HF天线(4)、第二HF天线(4′)、磁共振设备(5)的第三HF天线和磁共振设备(5)的第四HF天线实现,其中,周期性重复地,首先在一个周期的第一间隔期间利用第一HF天线(4)进行HF激励(25)的具有第一共振频率(f1)的第一部分并且利用第二HF天线(4′)进行HF激励(25)的具有第二共振频率(f2)的第二部分,然后在该周期的第二间隔期间利用第三HF天线(34)进行HF激励(25)的具有第一共振频率(f1)的第一部分并且利用第四HF天线(34′)进行HF激励(25)的具有第二共振频率(f2)的第二部分。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,第一HF天线(4)和第二HF天线(4′)在每个周期的第二间隔期间不发送,和/或第三HF天线(34)和第四HF天线(34′)在每个周期的第一间隔期间不发送。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述两个共振频率(f1,f2)根据待利用CEST效应来探测的物质来选择。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一共振频率(f1)在束缚到待探测的物质的分子上的质子的共振频率附近被选择,并且所述第二共振频率(f2)按照以下等式来确定
f2=2*f0–f1 (1)
其中,f0相应于水的共振频率。
8.一种用于借助磁共振设备(5)采集在检查对象(O)的体积段内部的磁共振数据的方法,用于借助所述磁共振数据采集体积段中基于CEST效应的信息,其中所述方法包括以下步骤:
入射具有两个不同的共振频率(f1,f2)的HF激励(25),以便将束缚到待探测的物质的分子上的质子的共振信号饱和,
对于不同的频率多次读取同一个K空间片段,以采集K空间片段的谱信息,用于由此探测通过化学交换而从待探测的物质的分子转移到水分子的质子,
其中,所述HF激励(25)按照根据权利要求1-7中任一项所述的方法来进行。
9.一种用于为了探测CEST效应以两个共振频率(f1,f2)进行HF激励(25)的磁共振设备,其中,所述磁共振设备(5)包括基本场磁体(1)、梯度场系统(3)、至少两个HF天线(4,4′)、控制装置(10),该控制装置用于控制所述梯度场系统(3)和所述至少两个HF天线(4,4′)、接收利用所述至少两个HF天线(4,4′)记录的测量信号、评估所述测量信号以及建立MR数据,
其中,所述至少两个HF天线包括第一HF天线(4)和第二HF天线(4′),其中,所述磁共振设备(5)被构造为,利用第一HF天线(4)进行HF激励(25)的具有所述两个共振频率中的第一共振频率(f1)的第一部分,并且利用第二HF天线(4′)进行HF激励(25)的具有所述两个共振频率中的第二共振频率(f2)的第二部分。
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