[发明专利]金属构件初始整体几何缺陷的简易测量方法有效
申请号: | 201410178992.7 | 申请日: | 2014-04-29 |
公开(公告)号: | CN103968814A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 冯然;完海鹰;宋满荣 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;G01C1/00 |
代理公司: | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人: | 余成俊 |
地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属构件 初始 整体 几何 缺陷 简易 测量方法 | ||
1.金属构件初始整体几何缺陷的简易测量方法包括以下步骤:
(1)首先在距离万能试验机上构件测试点一定距离的地方放置好三脚架,将光学经纬仪水平放置在三脚架上固定好,调整三脚架三个脚的高度,使得光学经纬仪与地面保持平行;
(2)然后将待测构件竖直放置于万能试验机测试点上,固定光学经纬仪的横轴,使得光学经纬仪在水平面内无法转动,通过在垂直面内上下移动光学经纬仪的镜筒,观测构件顶部和底部的铅垂线,确保构件与地面保持垂直;
(3)接着通过万能试验机给构件施加微小的荷载,使得构件固定不动,然后松开光学经纬仪的横轴,将光学经纬仪的镜筒对准构件的右侧,通过在垂直面内上下移动光学经纬仪的镜筒,使得镜筒中的十字交叉点移动的轨迹形成一条虚拟的直线,并确保这条虚拟的直接始终位于构件右侧的外边缘,且与构件右侧边缘保持一定的距离;
(4)再次固定光学经纬仪的横轴,使得光学经纬仪在水平面内无法转动,接着将普通钢尺垂直构件右侧平面分别放置于构件的顶部、中部和底部,通过在垂直面内上下移动光学经纬仪的镜筒,分别读取镜筒中的十字交叉点与构件顶部、中部和底部的普通钢尺相交时的读数a1,b1,c1,根据一定的几何关系就可以计算出构件右侧平面的一个初始整体几何缺陷
(5)最后再选取构件右侧顶部、中部和底部的不同位置,分别放置普通钢尺以得到各组不同的读数a2,b2,c2;a3,b3,c3...,然后采用步骤(4)中初始整体几何缺陷的计算公式计算得到相对应的各组不同的初始整体几何缺陷δ2,δ3,δ4...,取各组所得结果的最大值作为构件右侧平面最终的初始整体几何缺陷δ=Max(δ1,δ2,δ3,δ4...)。
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