[发明专利]电光相位调制器调制系数的测量方法

权利要求书

1.电光相位调制器调制系数的测量方法，其特征在于该调制系数的测量方法步骤如下：

(1)构建光纤干涉仪，该光纤干涉仪包括分束器、待测电光相位调制器、声光移频器、辅助电光相位调制器、合束器，其中待测电光相位调制器放置于光纤干涉仪的一个干涉臂上，声光移频器和辅助电光相位调制器串行连接放置在光纤干涉仪的另一个干涉臂上；

(2)设置激光器的工作波长为λ₀(对应频率为f₀)，在待测电光相位调制器的电极上加载频率为f₁的正弦信号，在辅助电光相位调制器的电极上加载频率为f₂的正弦信号，声光移频器的电极上加载频率为f_s的正弦信号，所加载正弦信号的频率f₁和f₂满足1.9f₂≤f₁≤2.1f₂；

(3)通过光电探测器和采样电路记录光纤干涉仪在(2)步骤中三种正弦信号作用下的输出信号，记录频率为f₁-f₂+f_s、f₁-f₂-f_s、f₂+f_s、f₂-f_s的幅度，分别记为i(f₁-f₂+f_s)、i(f₁-f₂-f_s)、i(f₂+f_s)、i(f₂-f_s)；

(4)按照如下公式中的任意一个计算得到待测电光相位调制器的调制系数值，J1(m)J0(m)=i(f1-f2+fs)i(f2+fs)]]>或J1(m)J0(m)=i(f1-f2-fs)i(f2-fs)]]>或J1(m)J0(m)=i(f1-f2+fs)i(f2-fs)]]>或J1(m)J0(m)=i(f1-f2-fs)i(f2+fs),]]>其中J₁为一阶一类贝塞尔函数，J₀为零阶一类贝塞尔函数，公式选择依据为公式的分子和分母中频率差别最小者；

(5)改变加载频率f₁与f₂的大小，重复步骤(2)、(3)、(4)、从而得到待测电光相位调制器在不同f₁下的调制系数。

(6)改变激光器的工作波长λ₀(对应频率为f₀)的大小，重复步骤(2)、(3)、(4)、(5)，从而得到待测电光相位调制器在不同工作波长λ₀时，不同调制频率f₁下的调制系数。