[发明专利]金属材料X-射线相分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及分析方法，具体而言是金属材料X-射线相分析方法。

背景技术

X-射线相分析是现代金属材料研究和失效分析等学科的重要手段。为了满足对各种试样的定量相分析的需求，人们开发了许多X-射线定量相分析方法，而相分析的成败则取决于X-射线衍射强度测量的精度和准确度这些方法的精度和准确度。

影响X-射线衍射强度测量的精度和准确度的因素很多，大晶粒效应是X-射线强度测量的主要误差来源之一。因为当晶粒粗大或织构强烈时，衍射圆是由不连续或强度不均匀的斑点组成的，这在粉末试样的情况下误差并不大，因为多晶体粉末试样对入射线的衍射会形成衍射圆锥，一个连续的圆锥与底片相交，会形成一个连续的圆弧，圆弧与衍射仪的点探测器相交，会形成一个点，这个点的强度基本上能够代表衍射圆上任一点的强度；但在块状试样时则存在择优取向(织构)，例如轧辊，其主体通常是铸造出来的，组织以柱状晶为主，晶粒粗大且有强烈的织构，由于奥氏体在常温下不稳定，在加工过程中极易发生转变，因此不允许像矿物那样通过粉碎、研磨成粉末来消除大晶粒和织构效应。为此，在测定钢中残余奥氏体的国家标准(YB/T5338-2006)中规定，要通过测量奥氏体的{200}、{220}和{311}，马氏体或铁素体的{200}、{211}峰的强度组成6峰对，得到6个结果的一个平均值，以消除织构带来的误差。然而，这并不能有效消除织构的影响，因为该标准没有规定采取特殊的方法来测量X-射线衍射强度，仍沿用在粉末衍射仪上进行的常规、固定试样X-射线衍射强度的测量模式，而以常规固定试样方式测量得到的仅仅是与参考方向(如轧板的轧向或横向)呈某一个角度{hkl}晶粒的强度,不能反映待测相含量的实际衍射强度势必引进实验误差，甚至高达数倍的误差。

因此，设计出一种效率高并且能有效地消除织构和大晶粒效应、从而大大提高精度的金属材料X-射线相分析方法十分必要。

发明内容

本发明的目的就是要提供一种效率高并且能有效地消除织构和大晶粒效应、从而大大提高精度的金属材料X-射线相分析方法。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

金属材料X-射线相分析方法，包括以下步骤：

(1)测量衍射强度：

(1.1.1)将试样安放在旋转试样测量附件上，

(1.1.2)将测量附件按常规方法固定在测角仪轴心平面中，

(1.1.3)用θ/2θ联动扫描方式对试样进行旋转强度测量，测出待测相的若干个{hkl}晶面的I_i(hkl)值，

(1.2.1)将相同成分标样安放在旋转试样测量附件上，

(1.2.2)将测量附件按常规方法固定在测角仪轴心平面中，

(1.2.3)用θ/2θ联动扫描方式对相同成分标样进行旋转强度测量，测出待测相的若干个{hkl}晶面的I_j(hkl)值,

(1.3.1)将无织构标样安放在测量附件上，

(1.3.2)将测量附件按常规方法固定在测角仪轴心平面中，

(1.3.3)用θ/2θ联动扫描方式对无织构标样进行旋转或非旋转强度测量，测出待测相的若干个{hkl}晶面的I_r(hkl)值；

(2)对衍射强度进行织构修正：

(2.1)将I_i(hkl)值和I_r(hkl)值代入公式P(hkl)＝I_(hkl)/I_r(hkl)×∑N_(hkl)/∑(N_(hkl)×I_(hkl)/I_r(hkl)),式中N为晶面的多重性因数，计算出试样的{hkl}轴密度P_i(hkl)，

(2.2)将I_j(hkl)值和I_r(hkl)值代入公式P(hkl)＝I_(hkl)/I_r(hkl)×∑N_(hkl)/∑(N_(hkl)×I_(hkl)/I_r(hkl)),式中N为晶面的多重性因数，计算出相同成分标样的{hkl}轴密度P_j(hkl)，