[发明专利]处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法和设备有效
申请号: | 201410184437.5 | 申请日: | 2014-05-04 |
公开(公告)号: | CN104134199B | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 佐藤真;杉田充朗;斯蒂芬·邹特;迈克尔·比尔;克里斯多夫·息茨博格 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G06T5/50 | 分类号: | G06T5/50 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 偏振 敏感 光学 相干 断层 成像 数据 方法 设备 | ||
1.一种用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,包括以下步骤:
检测步骤,用于对通过使用偏振分束器将合成光进行分割而得到的光进行检测,其中,所述合成光是通过将来自利用测量光所照射的要测量的试样的返回光与对应于所述测量光的参考光进行合成而得到的;
获取步骤,用于获取从被检测的光所获得的多组偏振数据项;
转换步骤,用于将所述多组偏振数据项转换成包括与延迟和轴取向有关的信息的矢量形式的表示;
平均步骤,用于对以所述表示示出的多组转换后的偏振数据项进行平均,以得到多组平均后的偏振数据项;
计算步骤,用于从所述多组平均后的偏振数据项计算延迟和轴取向;
生成步骤,用于通过使用所计算出的延迟和轴取向来生成不同类型的偏振敏感B扫描图像;以及
控制步骤,用于使得显示单元显示所生成的偏振敏感B扫描图像中的至少之一。
2.根据权利要求1所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,其中,所述转换步骤包括使与两个不同方向有关的偏振数据项彼此相除、并且将所述与两个不同方向有关的偏振数据项之间的相位差转换成所述表示中所包括的轴取向的计算。
3.根据权利要求1或2所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,其中,所述转换步骤包括使与两个不同方向有关的偏振数据项彼此相除、并且生成包括所述试样的延迟和轴取向的复数据的计算。
4.根据权利要求1或2所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,其中,一组偏振数据项包括在不同时间获取到的偏振数据项。
5.根据权利要求1或2所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,其中,一组偏振数据项包括在不同的空间位置处获取到的偏振数据项。
6.根据权利要求1所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,其中,所述转换步骤包括将多组Stokes矢量作为所述多组偏振数据项的计算。
7.根据权利要求1、2和6中任一项所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法,其中,所述平均步骤包括生成平均Stokes矢量作为平均偏振数据项。
8.一种用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的设备,包括:
检测单元,用于对通过使用偏振分束器将合成光进行分割而得到的光进行检测,其中,所述合成光是通过将来自利用测量光所照射的要测量的试样的返回光与对应于所述测量光的参考光进行合成而得到的;
获取单元,用于获取从被检测的光所获得的多组偏振数据项;
转换单元,用于将所述多组偏振数据项转换成包括与延迟和轴取向有关的信息的矢量形式的表示;
平均单元,用于对以所述表示示出的多组转换后的偏振数据项进行平均,以得到多组平均后的偏振数据项;
计算单元,用于从所述多组平均后的偏振数据项计算延迟和轴取向;
生成单元,用于通过使用所计算出的延迟和轴取向来生成不同类型的偏振敏感B扫描图像;以及
控制单元,用于使得显示单元显示所生成的偏振敏感B扫描图像中的至少之一。
9.根据权利要求8所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的设备,其中,所述转换单元能够执行用于将与两个不同方向有关的偏振数据项彼此相除、并且将所述与两个不同方向有关的偏振数据项之间的相位差转换成所述表示中所包括的轴取向的计算。
10.根据权利要求8或9所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的设备,其中,所述转换单元能够执行用于将与两个不同方向有关的偏振数据项彼此相除、并且生成包括所述试样的延迟和轴取向的复数据的计算。
11.根据权利要求8或9所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的设备,其中,所述获取单元能够在不同的时间获取所述偏振数据项。
12.根据权利要求8或9所述的用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的设备,其中,所述获取单元能够在不同的空间位置处获取所述偏振数据项。
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