[发明专利]介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备

说明书

技术领域

本发明涉及传感器检测领域，具体而言，涉及一种介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备。

背景技术

目前，打印机、切票机等介质处理设备经常使用卷筒状或折叠状的连续介质进行打印、切票等处理。为了实现介质定位，如对打印位置或切割位置进行定位，通常，在连续介质上间隔预设距离设置特定的标记，比如，如图1所示，在介质上间隔预定距离H1印刷黑色矩形块(简称黑标)M1，则该黑标M1为特定的标记，或者，如图2所示，在基纸上间隔预设距离H2黏贴具有固定高度的标签，则相邻标签之间的基纸M2为特定的标记。由于介质的标记部分与非标记部分的反射率或透射率存在差异，因此，现有技术中，介质处理设备基于标记部分和非标记部分的反射率或透射率差异使用光学方式进行标记的检测，利用标记作为介质定位的依据。

现有技术中，介质处理设备的介质输送通道中设置有用于检测标记的光电传感器，其中，光电传感器包括光发生器和光接收器。输送介质时，介质处理设备的控制器为光发生器提供驱动电流使光发生器发射具有一定强度的光，光发生器发射的光照射在介质上，经过介质反射或透射后的光被光接收器所接收，光接收器将接收的光信号转化为电信号。由于介质的标记部分与非标记部分的反射率或透射率不同，因此，光接收器输出的电信号不同，介质处理设备通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较，即可判断位于传感器的检测位置的介质为标记部分或非标记部分，从而实现标记检测。图3所示为一种介质的标记部分和非标记部分与光电传感器输出的电信号的波形之间的对应关系示意图，如图所示，当光接收器输出的电压值大于预设阈值Vth时，能够判定标记部分位于传感器的检测位置，当光接收器输出的电压值小于预设阈值Vth时，能够判定非标记部分位于传感器的检测位置。

因此，现有技术中，通常为介质处理设备的传感器的光发生器提供一个预设驱动电流，并设置一个预设阈值，通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较实现标记检测。然而，对于同一型号同一批次的多台介质处理设备，受装配误差、零件加工误差以及传感器自身离散性的影响，如果多台设备的传感器的光发生器的驱动电流设置为同一值时，每台设备的传感器的光发生器发射的照射在介质上的光的强度也可能不同，从而造成每台设备的光接收器输出的电信号的值不同；另外，如果传感器的光发生器的驱动电流始终设置为出厂时设定的值时，由于传感器使用过程中受环境变化、器件老化的影响，光发生器发射的照射在介质上光会逐渐变弱，从而导致光接收器输出的电信号发生变化。当介质处理设备的光发生器输出的电信号发生变化时，通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较实现标记检测就可能导致传感器无法正确检测介质的标记部分和非标记部分。如图4所示，光发射器发射的照射在介质上的光的强度低于一定值时，光接收器输出的电压幅值小于预设阈值Vth，此时，通过将光接收器输出的电信号的值与预设阈值进行比较来实现标记检测时，就会出现检测失败。

为了解决上述问题，介质处理设备的制造商在设备出厂时会对介质处理设备的传感器进行校正，以保证输送同一类型的介质时多台介质处理设备的光接收器输出的电信号的值相同；同时，介质处理设备使用过程中，使用者会每间隔一段时间，比如一年，对介质处理设备的传感器进行校正，以防止由于光发射器的发光强度变弱而导致的标记检测失败。

在相关技术中公开了一种介质处理设备中光电传感器的校正方法，通过校正传感器的光发生器的驱动电流，使传感器的光接收器输出的电信号的值达到预设目标值。该方法包括：将介质的非标记部分定位到传感器的检测位置，设定一个目标值，调节传感器的光发生器的驱动电流并检测光接收器输出的电流值，当传感器的光接收器输出的电流值达到预设的目标值时，确定传感器的光发生器的驱动电流。通过该相关技术，可以使传感器的光接收器输出的电信号的值为确定值。但是，该相关技术需要预先设定目标值，由于不同设备之间存在差异性以及不同类型介质之间也存在差异性，因此该预设目标值不容易确定。相关技术人员往往根据经验确定该预设目标值，但是，当设备差异过大或当器件老化严重时，可能导致校正过程中传感器的光接收器输出的电信号的值无法达到该预设目标值，从而出现校正失败。

针对现有技术的介质处理设备在传感器校正过程中容易出现校正失败的问题，目前尚未提出有效解决方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种介质处理设备中传感器的校正方法及介质处理设备，以解决现有技术的介质处理设备在传感器校正过程中容易出现校正失败的问题。