[发明专利]一种检测物谱图与数据库谱图的匹配方法有效

专利信息
申请号: 201410188493.6 申请日: 2014-05-06
公开(公告)号: CN103955518B 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 杜靖;袁丁;赵喜;吴红彥 申请(专利权)人: 北京华泰诺安探测技术有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30;G06K9/64
代理公司: 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)11369 代理人: 史霞
地址: 101318 北京市顺义区临*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 物谱图 数据库 匹配 方法
【权利要求书】:

1.一种检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一、数据库内存储有多个标准谱图,每个标准谱图上均选取多个参照峰,从检测物谱图上选取m个特征峰,并以其中一个峰值最高的特征峰为主峰,并在所有的标准谱图中进行查找,当一个标准谱图存在一个参照峰与所述主峰的峰值匹配,则将该标准谱图作为一级候选标准谱图,进而确定出多个一级候选标准谱图;

步骤二、在除主峰外剩下的m-1个特征峰中选取n个特征峰构成一特征峰序列;对多个一级候选标准谱图依次执行以下步骤,进而确定出多个二级候选标准谱图:在所述特征峰序列中逐个选取特征峰在一个一级候选标准谱图中查找,当一级候选标准谱图存在至少一个参照峰与所述特征峰序列的至少一个特征峰的峰值匹配,则该一级候选标准谱图作为二级候选标准谱图;

步骤三、对多个二级候选标准谱图依次执行以下步骤,进而确定出至少一个三级候选标准谱图:逐个选取检测物谱图中的m个特征峰在一个二级候选标准谱图中进行查找,当该二级候选标准谱图中存在m个参照峰分别与m个特征峰的峰值和横坐标匹配,则该二级候选标准谱图作为三级候选标准谱图;

步骤四、当三级候选标准谱图为一个时,则该三级候选标准谱图为与检测物谱图匹配成功的谱图,否则利用后续操作在多个三级候选标准谱图中筛选出一个与检测物谱图匹配成功的谱图;

其中,所述步骤二中,在所述特征峰序列中逐个选取特征峰在一个一级候选标准谱图中查找,当一级候选标准谱图找到一个参照峰与所述特征峰序列的一个特征峰的峰值匹配,就放弃选取下一个特征峰,而直接将该一级候选标准谱图作为二级候选标准谱图。

2.如权利要求1所述的检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,

所述步骤一中,将多个参照峰依照峰值由大到小进行排序,并将检测物谱图上的m个特征峰也依照峰值由大到小进行排序;

所述步骤一中,将所述主峰在任一标准谱图中进行查找时,均依照该标准谱图上的多个参照峰的峰值由大到小顺序进行;

所述步骤三中,m个特征峰中任一个特征峰在一个二级候选标准谱图中进行查找时,均依照该二级候选标准谱图上的多个参照峰的峰值由大到小顺序进行。

3.如权利要求1或2所述的检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,所述步骤三中,当一个参照峰和一个特征峰的横坐标之差的绝对值小于等于4时,且峰值之差的绝对值小于等于0.3时,则该参照峰和该特征峰匹配。

4.如权利要求3所述的检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,

所述步骤一中,当一个参照峰和所述主峰的峰值之差的绝对值小于等于0.3时,则该参照峰和所述主峰匹配;

所述步骤二中,当一个参照峰和所述特征峰序列中的一个特征峰的峰值之差的绝对值小于等于0.3时,则该参照峰和该特征峰匹配。

5.如权利要求1所述的检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,所述后续操作包括面积差分法,或导数面积差分法。

6.如权利要求1所述的检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,从检测物谱图上选取m个特征峰,具体通过以下步骤实现:当一个峰的峰值与检测物谱图上的最大峰值的比例大于一设定比例时,将该峰作为特征峰,所述设定比例由光谱检测设备的分辨率决定。

7.如权利要求1或2所述的检测物谱图与数据库谱图的匹配方法,其特征在于,所述步骤二中,n取值为3。

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