[发明专利]绝缘寿命推定方法及绝缘寿命推定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种推定绝缘寿命的绝缘寿命推定方法及绝缘寿命推定装置。

背景技术

漆包线等电线，以在导体周围包围的方式设置绝缘体(绝缘皮膜)而构成。这样具备导体和绝缘体而构成的电线根据其使用条件和使用环境等会发生局部放电。局部放电是指在绝缘体中或者导体和绝缘体之间的微小的空隙(void)产生微弱的电火花(放电现象)。电线当发生局部放电时，可能由此使绝缘体被破坏，导致无法保持绝缘状态的绝缘破坏。因此，针对电线，普遍对设想的使用条件和使用环境等下绝缘体到绝缘破坏为止的时间(也就是绝缘寿命)进行推定。

作为推定电线的绝缘寿命的方法，一般是利用该电线的V-t(V：施加电压、t：破坏时间)特性。但是近年来多使用逆变电源作为电动机用电源，因此需要考虑电线上被施加急剧的过电压(逆变浪涌电压)。由此，对于以往的绝缘寿命推定方法，有的例如与对应于交流电压下的局部放电开始电压(Partial Discharge Inception Voltage，以下称为“PDIV”)的逆变浪涌电压下的PDIV的增加量相应地，调整交流电压下的V-t特性而作为逆变浪涌电压下的V-t特性，由此，在施加逆变浪涌电压时也能够推定绝缘寿命(例如参照专利文献1)。

可以认为电线的绝缘寿命受到局部放电支配(影响)。并且，这个局部放电受到施加电压波形条件(上升时间、脉冲宽度等)的影响。例如，在逆变浪涌电压下，PDIV受到施加电压的波形的上升时间的影响。这样，对绝缘寿命产生影响的局部放电根据施加电压波形条件不同，发生形态可能不同。

然而，以往的利用V-t特性的绝缘寿命推定方法中，在预先进行的V-t实验中将施加电压波形条件为固定、峰值一定的电压持续对电线加电，测定到绝缘破坏为止的时间，基于该结果推定实际使用中的电线的绝缘寿命。也就是说，尽管在实际使用中施加电压波形条件各不相同、电压值也时时刻刻变化，但对于该实际使用中的电线的绝缘寿命推定结果，并没有考虑到该实际使用中的施加电压波形条件的影响。可以认为这种情况在逆变浪涌电压下特别显著。因此，以往的绝缘寿命推定方法中，对绝缘寿命推定结果的可靠性并不能说是充分的。

关于这一点，也考虑到例如配合预想的各种各样施加电压波形条件来实施V-t实验，若实际使用中的施加电压波形条件变化则每次实施V-t实验。但是，这样每次实施V-t实验并不高效。

另外，作为以往的绝缘寿命推定方法，也有如专利文献1那样考虑到施加逆变浪涌电压的情况，但为此必须用PDIV比换算V-t特性，需要V-t特性的换算，所以相应地并不高效。

专利文献1：日本特开平9-80006号公报

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种绝缘寿命推定方法及绝缘寿命推定装置，其能够考虑施加电压波形条件的影响来推定绝缘寿命，由此实现针对绝缘寿命推定结果的可靠性的提高，并且在该情况下也能高效地推定绝缘寿命。

本发明是为了达到上述目的而提出的。

根据本发明的第1方式，提供一种绝缘寿命推定方法，其对具备导体和绝缘体而构成的试样的绝缘寿命进行推定，该绝缘寿命推定方法具备：

信息获取步骤，其获取所述试样中的局部放电的放电电荷量与该试样的绝缘破坏的相关信息；

电荷量检测步骤，其在推定所述绝缘寿命的阶段使所述试样发生局部放电，检测该局部放电的放电电荷量；以及

寿命推定步骤，其基于所述信息获取步骤中得到的相关信息，根据所述电荷量检测步骤中检测出的放电电荷量求出所述试样到绝缘破坏为止的时间，作为所述绝缘寿命的推定结果。

根据本发明的第2方式，提供第1方式的绝缘寿命推定方法，其中，

在所述信息获取步骤中，获取确定所述试样到绝缘破坏为止的总放电电荷量的信息，作为所述相关信息；

在所述电荷量检测步骤中，检测所述试样中发生的局部放电的每单位时间的放电电荷量；

在所述寿命推定步骤中，将所述总放电电荷量除以所述每单位时间的放电电荷量，求出从开始使用所述试样到该试样绝缘破坏为止的时间。

根据本发明的第3方式，提供第1方式的绝缘寿命推定方法，其中，

在所述信息获取步骤中，获取确定从开始使用所述试样到该试样绝缘破坏为止该试样中的局部放电的放电电荷量的经时变化特性的信息，作为所述相关信息；

在所述电荷量检测步骤中，检测所述试样中发生的局部放电的放电电荷量；

在所述寿命推定步骤中，将所述电荷量检测步骤中的检测结果与所述经时变化特性对照，求出所述试样到绝缘破坏为止的残余时间。