[发明专利]一种拉曼光谱分析的自动基线校正方法有效
申请号: | 201410188877.8 | 申请日: | 2014-05-06 |
公开(公告)号: | CN103940803A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 杜靖;袁丁;赵喜;吴红彥 | 申请(专利权)人: | 北京华泰诺安科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01J3/44 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 史霞 |
地址: | 100200 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光谱分析 自动 基线 校正 方法 | ||
1.一种拉曼光谱分析的自动基线校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、拉曼光谱仪以被测物的散射光的电信号为横坐标,以散射光的强度为纵坐标制作原始谱图;
步骤二、在所述原始谱图中,从头开始将每n个连续分布的原始谱图数据分为一组,其中,n为奇数,且n≥5,并且每组原始谱图数据绘制一条待校正曲线;
步骤三、判断是否对一组原始谱图数据的第m个原始谱图数据进行校正,其判断条件为:当第m个原始谱图数据的纵坐标为相应的待校正曲线的最大值时,则对该第m个原始谱图数据进行校正,其中,m=(n+1)/2,否则放弃校正;
步骤四、按照以下规则对一组原始谱图数据的第m个原始谱图数据进行校正:以第1个原始谱图数据和第n个原始谱图数据中纵坐标较大的一个数据为第一基准点,经过第一基准点的一水平直线与相应的待校正曲线相交于第二基准点,经过第m个原始谱图数据的水平直线与第一基准点和第二基准点的连线的中点的一垂线相交于一交点,该交点为第m个原始谱图数据的校正点,该组原始谱图数据中其他原始谱图数据不变;
步骤五、利用所有的放弃校正的原始谱图数据以及所有的经过校正的原始谱图数据重新制作校正后的原始谱图,并利用所述校正后的原始谱图制作拉曼光谱。
2.如权利要求1所述的拉曼光谱分析的自动基线校正方法,其特征在于,所述步骤二中,n取值为5。
3.如权利要求1或2所述的拉曼光谱分析的自动基线校正方法,其特征在于,所述步骤五中,在利用所述校正后的原始谱图制作拉曼光谱之前,还利用自动校正算法将所述校正后的原始谱图中的所有数据的纵坐标调节至预定范围内,所述预定范围为3×104~5×104cd。
4.如权利要求3所述的拉曼光谱分析的自动基线校正方法,其特征在于,在步骤五中,将所述校正后的原始谱图的所有数据的纵坐标均以相同的比例系数进行缩小,直至所有数据的纵坐标都位于所述预定范围内。
5.如权利要求4所述的拉曼光谱分析的自动基线校正方法,其特征在于,所述步骤五中,在利用所述校正后的原始谱图制作拉曼光谱之前,还对校正后的原始谱图进行降噪和平滑校正处理。
6.如权利要求1所述的拉曼光谱分析的自动基线校正方法,其特征在于,所述步骤五中,利用所述校正后的原始谱图制作拉曼光谱时,将所述校正后的原始谱图的横坐标计算为拉曼位移。
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