[发明专利]AlGaN-GaN异质结欧姆接触制作方法无效
申请号: | 201410193498.8 | 申请日: | 2014-05-08 |
公开(公告)号: | CN103972069A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 王冲;钟仁骏;陈冲;何云龙;郑雪峰;马晓华;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | algan gan 异质结 欧姆 接触 制作方法 | ||
1.一种AlGaN-GaN异质结上欧姆接触制作方法,包括如下步骤:
(1)对AlGaN/GaN材料进行清洗;
(2)在清洗后的AlGaN/GaN材料表面的源、漏欧姆电极区进行光刻,制作带有很多通孔的光刻胶掩膜,这些通孔的面积之和为欧姆接触电极总面积的15%~45%;通孔中露出AlGaN材料;
(3)利用干法刻蚀对光刻胶掩膜通孔中露出的AlGaN材料进行刻蚀,得到源、漏欧姆电极区挖有很多孔的AlGaN材料,挖孔深度为5~15nm;刻蚀完成后去除光刻胶掩膜;
(4)在挖孔的整个源、漏欧姆电极区域的AlGaN材料之上,淀积Ti/Al/Ni/Au多层金属,并进行800~870℃退火30~60s,形成源、漏欧姆接触电极。
2.根据权利要求书1中所述的方法,其中所述步骤(1)中的对AlGaN/GaN材料进行清洗,按如下步骤进行:
先将AlGaN/GaN异质结材料放置于1:5的HF溶液中浸泡30s,去除表面氧化层;
再将AlGaN/GaN异质结材料放置于丙酮、乙醇有机溶剂中超声清洗,去除表面沾污,并用去离子水冲洗5分钟。
3.根据权利要求书1中所述的方法,其中所述步骤(3)中的干法刻蚀,工艺条件如下:
采用RIE反应离子刻蚀,反应气体为Cl2,其流量40sccm,
反应室压强为10mT,
电极功率为50W,
刻蚀速率为0.5nm/s。
4.根据权利要求书1中所述的方法,其中所述步骤(4)中的多层金属淀积,是通过电子束蒸发设备进行的,工艺条件如下:
蒸发前真空度达到10-7Tor以下,金属蒸发速率为0.3nm/s。
5.根据权利要求书1中所述的方法,其中所述步骤(4)中淀积Ti/Al/Ni/Au多层金属,其厚度分别是:Ti为20~30nm,Al为150~250nm,Ni为40~60nm,Au为60~100nm。
6.根据权利要求书1中所述方法,其中所述步骤(4)中的退火,使用设备为RTP快速热退火炉,按如下步骤进行:
首先,向退火炉中通入10min的N2来排除空气;
然后,20℃/s的速率升温至所设定的温度;
最后,以3L/s的速率向退火炉中通入N2,按所设定的退火时间进行退火。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造