[发明专利]一种干式颗粒粒度测量装置

权利要求书

1.一种干式颗粒粒度测量装置，包括光源系统、悬浮系统、探测系统和计算机处理系统；其特征是，所述悬浮系统包括真空室，在所述真空室内水平设置有上下两个极板，所述上极板接地，所述下极板连接射频电源的功率电极，所述射频电源的另一电极接地；在所述上极板与所述下极板之间设置有用于盛放待测颗粒的颗粒池，所述颗粒池连接穿出所述真空室的振动杆。

2.根据权利要求1所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述下极板为碗状金属板。

3.根据权利要求1所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述下极板为金属平板；在所述下极板上设置有用于防止由所述颗粒池撒出的颗粒落到所述下极板外侧的玻璃环。

4.根据权利要求1所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，在所述下极板的表面通过磨砂工艺形成有磨砂层，在所述磨砂层的表面通过涂黑工艺形成有涂黑层。

5.根据权利要求1所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述上极板由两块ITO导电玻璃组成，且两块所述ITO导电玻璃中的ITO膜层相互贴合。

6.根据权利要求1所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述颗粒池由不同目数的多层金属网压制而成；所述振动杆呈竖直设置，所述颗粒池通过水平设置的绝缘杆与所述振动杆相接。

7.根据权利要求1所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，在所述真空室的腔体上开有进气口和出气口；通过所述进气口可向所述真空室内充入空气或氩气，在所述进气口处安装有流量计，通过调节所述流量计可以控制所述真空室内的气压；在所述出气口处安装有用于测量真空室内气压的真空计。

8.根据权利要求1～7任一项所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述光源系统设置在所述真空室外与所述真空室的侧窗口相对的部位；所述光源系统包括半导体激光器，在所述半导体激光器的前方设置有平凸柱面透镜；所述半导体激光器和所述平凸柱面透镜一同设置在一升降台上。

9.根据权利要求8所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述探测系统设置在所述真空室的上窗口的上方；所述探测系统包括照相机，在所述照相机前设置有与照相机镜头后部相连的增距环；在所述照相机镜头的前方设置有带通滤光片，由所述半导体激光器所发激光的频率落入所述带通滤光片的频率通带范围内。

10.根据权利要求9所述的干式颗粒粒度测量装置，其特征是，所述计算机处理系统与所述探测系统中的照相机相接；所述照相机用于拍摄颗粒在真空室内的布朗运动轨迹图像并传输至所述计算机处理系统，所述计算机处理系统用于根据所接收到的图像计算颗粒的均方位移<r²>，并根据颗粒的布朗运动原理，依据公式

R=kBTtπη⟨r2⟩]]>

计算颗粒的粒径；式中：k_B为玻尔兹曼常数，T为温度，t是照相机拍摄图像的持续时间，η是气体黏度，r是颗粒位置。