[发明专利]多层现场可编程门阵列硬件要求评估和验证

权利要求书

1.一种验证用于集成系统的现场可编程门阵列的方法，所述方法包括：

从所述现场可编程门阵列的一组要求中选择不受所述集成系统的动态影响的所述要求的第一子集；

从所述现场可编程门阵列的所述组的要求中选择受所述集成系统的所述动态影响的所述要求的第二子集；

使用验证所述要求的所述第一子集的芯片测试器对所述现场可编程门阵列执行第一硬件测试；和

当所述现场可编程门阵列安装在所述集成系统内时对所述现场可编程门阵列执行第二硬件测试以验证所述要求的所述第二子集。

2.根据权利要求1所述的方法，其还包括：

使用寄存器传输级仿真在计算机系统上生成一组输入向量；和

使用所述寄存器传输级仿真在所述计算机系统上生成用于各自输入向量的一组验证向量；和

其中对所述现场可编程门阵列执行第一硬件测试包括：

使用所述芯片测试器将所述输入向量提供给所述现场可编程门阵列；和

使用所述计算机系统比较所述现场可编程门阵列的输出与所述验证向量以验证所述要求的所述第一子集。

3.根据权利要求2所述的方法，其还包括运行所述寄存器传输级仿真以验证加载到所述现场可编程门阵列的设计。

4.根据权利要求2所述的方法，其中比较所述现场可编程门阵列的所述输出与所述验证向量包括使用在所述计算机系统上运行的向量测试软件比较所述输出向量与所述验证向量。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述要求的所述第一子集均不包括时序要求、仲裁要求、硬件/软件集成要求、外部逻辑控制要求、测试模式特征要求、闭环操作要求或瞬态响应要求。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述要求的所述第二子集包括以下项的一个或多个：时序要求、仲裁要求、硬件/软件集成要求、外部逻辑控制要求、测试模式特征要求、闭环操作要求和瞬态响应要求。

7.一种用于验证用于机载集成系统的现场可编程门阵列的系统，所述系统包括：

独立芯片测试器，其中所述现场可编程门阵列与所述独立芯片测试器对接以验证第一组要求；和

集成系统测试环境，其中当所述现场可编程门阵列安装在所述集成系统内时在所述现场可编程门阵列上运行一组测试以验证第二组要求；和

其中所述第一组要求不受所述集成系统的动态影响，且其中所述第二组要求受所述集成系统的动态影响。

8.根据权利要求7所述的系统，其还包括执行待测试设计的仿真的计算机系统，其中所述计算机系统基于所述仿真生成输入向量和验证向量，且其中所述输入向量被提供给所述现场可编程门阵列以验证所述第一组要求。

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述独立芯片测试器还包括基于所述现场可编程门阵列的输出生成输出向量的向量测试软件，其中所述向量测试软件比较所述验证向量与所述输出向量以验证所述第一组要求。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述向量测试软件安装在所述计算机系统上。

11.根据权利要求8所述的系统，其中所述计算机系统被配置来基于测试台执行所述待测试设计的所述仿真。

12.根据权利要求11所述的系统，其中还基于所述测试台生成所述输入向量。

13.根据权利要求7所述的系统，其中所述第一组要求均不包括时序要求、仲裁要求、硬件/软件集成要求、外部逻辑控制要求、测试模式特征要求、闭环操作要求或瞬态响应要求。

14.根据权利要求7所述的系统，其中所述第二组要求包括以下项的一个或多个：时序要求、仲裁要求、硬件/软件集成要求、外部逻辑控制要求、测试模式特征要求、闭环操作要求和瞬态响应要求。