[发明专利]有机发光二极管显示面板及其驱动方法、显示装置

说明书

技术领域

本发明属于有机发光二极管(OLED)显示技术领域，具体涉及一种有机发光二极管显示面板及其驱动方法、有机发光二极管显示装置。

背景技术

在有机发光二极管显示面板中，每个子像素中有一个用于发光的有机发光二极管，而有机发光二极管的亮度由流过其的电流和加载在其上的电压决定。其中，流过有机发光二极管的电流由与该有机发光二极管对应的数据线上的信号决定，从而通过数据线可控制各子像素的亮度；而当其他情况一定时，加载在有机发光二极管上的电压由电源电压(V_dd)决定，而各子像素的电源电压由位于阵列基板外的电源统一提供。

显然，电源要通过第一引线(例如位于柔性线路板上的引线)连接到阵列基板上，再通过阵列基板中的第二引线才能连接到各子像素，而这些引线必然有一定电阻。因此，当有电流流过引线时，其上必然产生相应的压降(IR Drop)，而由于显示不同画面时流过各有机发光二极管的电流不同，故引线的压降也不同，尤其对于第一引线，其电流等于流过全部有机发光二极管的电流之和，故其上的压降变化范围较大，最低为零，最高则可达数百毫伏(例如为0.5V)；在电源输出电压不变的情况下，这种压降的变化会导致实际加载到各子像素上的电源电压也不断变化，也就是导致加载到各有机发光二极管上的电压不断变化，进而影响有机发光二极管的发光亮度，降低显示质量。

为降低压降对显示效果的影响，现有方式是在每个子像素中增设补偿电路，用于补偿因压降产生的电源电压变化。但是，为每个子像素增加补偿电路必然导致阵列基板的电路结构更加复杂，增加设计和制备难度，提高生产成本，尤其是对于高分辨率的有机发光二极管显示面板，其每个子像素尺寸很小，没有多余的空间增设补偿电路。

发明内容

本发明所要解决的技术问题包括，针对现有的有机发光二极管显示面板的电压补偿结构复杂的问题，提供一种结构简单的有机发光二极管显示面板及其驱动方法、有机发光二极管显示装置。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种有机发光二极管显示面板，其包括：

具有多个子像素的阵列基板；

用于为所述阵列基板中的子像素提供电源电压的电源；

连接阵列基板与电源的第一引线；

电流检测单元，用于检测所述第一引线中的电流；

控制单元，用于根据所述电流检测单元的检测结果控制所述电源的输出电压。

优选的是，所述电流检测单元包括霍尔电流传感器。

优选的是，所述有机发光二极管显示面板还包括柔性线路板，且所述第一引线至少部分位于所述柔性线路板上；所述电流检测单元设于柔性线路板上，并用于检测位于柔性线路板上的第一引线中的电流。

优选的是，所述有机发光二极管显示面板还包括比较单元，其中所述比较单元用于比较所述电流检测单元的检测结果与预设的阈值电流；所述控制单元用于在当所述检测结果小于等于阈值电流时控制所述电源的输出电压为额定值，并在所述检测结果大于阈值电流时根据所述检测结果调整所述电源的输出电压。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种上述有机发光二极管显示面板的驱动方法，其包括：

S1、电流检测单元检测所述第一引线中的电流；

S2、控制单元根据电流检测单元的检测结果控制所述电源的输出电压。

优选的是，所述有机发光二极管显示面板为上述具有比较单元的有机发光二极管显示面板；在S1步骤和S2步骤之间，还包括：比较单元比较所述电流检测单元的检测结果和预设的阈值电流；所述S2步骤包括：若所述检测结果小于等于阈值电流，则控制单元控制所述电源的输出电压为额定值，若所述检测结果大于阈值电流，则控制单元根据所述检测结果调整所述电源的输出电压。

优选的是，所述步骤S2包括：控制单元在预设的对应表中查找与电流检测单元的检测结果相对应的电压值，并控制所述电源的输出电压等于所述电压值。

进一步优选的是，所述电压值的最大值V_max＝V_dd’+(IR)_zmax，其中V_dd’为额定电源电压，(IR)_zmax为当所述有机发光二极管显示面板的亮度最大时其阵列基板中点位置的总压降。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种有机发光二极管显示装置，其包括上述的有机发光二极管显示面板。