[发明专利]基于预估和校正算法的外网量测采样误差修正方法

权利要求书

1.一种基于预估和校正算法的外网量测采样误差修正方法，其特征是所述方法包括：

步骤1：分布式状态估计计算启动后，主子系统和从子系统分别获取用于计算量测断面时差的参数；

所述主子系统是发起计算的子系统；

步骤2：从子系统将获取的用于计算量测断面时差的参数发送至主子系统；

步骤3：主子系统计算测量断面时差并将所述测量断面时差发送至从子系统；

步骤4：从子系统根据量测断面时差修正各测点的量测值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征是所述主子系统获取用于计算量测断面时差的参数包括：主子系统根据自身存储的重叠区域的历史量测断面，提取各测点最近1个周期的量测值，记为第一量测值S_i,1；求取各测点第一量测变化近似直线的斜率K_i,1、各测点第二量测变化近似直线的斜率K_i,2和各测点在第一回归直线上的投影纵坐标S_i,1Y；

其中，i＝1,2,...,n，n为重叠区域的测点个数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征是所述求取各测点第一量测变化近似直线的斜率K_i,1包括如下子步骤：

子步骤A1：主子系统从自身存储的重叠区域的历史量测断面中提取各测点最近p个周期的量测值；其中，p为设定值；

子步骤A2：利用各测点最近p个周期的量测值预测各测点下一个周期的量测值；

子步骤A3：将各测点最近1个周期的量测值和预测的各测点下一个周期的量测值相连，得到各测点第一量测变化近似直线；

子步骤A4：计算各测点第一量测变化近似直线的斜率K_i,1。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征是所述求取各测点第二量测变化近似直线的斜率K_i,2包括如下子步骤：

子步骤B1：主子系统从自身存储的重叠区域的历史量测断面中提取各测点最近2个周期的量测值；

子步骤B2：将各测点最近2个周期的量测值相连，得到各测点第二量测变化近似直线；

子步骤B3：计算各测点第二量测变化近似直线的斜率K_i,2。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征是所述求取各测点在第一回归直线上的投影纵坐标S_i,1Y包括如下子步骤：

子步骤C1：主子系统从自身存储的重叠区域的历史量测断面提取各测点最近p个周期的量测值；其中，p为设定值；

子步骤C2：根据各测点最近p个周期的量测值，计算各测点的第一回归直线；

子步骤C3：将各测点最近1个周期的量测值投影到该测点的第一回归直线上；

子步骤C4：计算投影点的纵坐标S_i,1Y。

6.根据权利要求2-5中任意一项权利要求所述的方法，其特征是所述从子系统获取用于计算量测断面时差的参数包括，从子系统根据自身存储的重叠区域的历史量测断面，提取各测点最近一个周期的量测值，记为第二量测值S_i,2；求取各测点在第二回归直线上的投影纵坐标S_i,2Y；

其中，i＝1,2,...,n，n为重叠区域的测点个数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征是所述求取各测点在第二回归直线上的投影纵坐标S_i,2Y包括如下子步骤：

子步骤D1：从子系统提取重叠区域的历史量测断面中各测点最近p个周期的量测值；其中，p为设定值；

子步骤D2：根据提取的各测点最近p个周期的量测值，计算各测点的第二回归直线；

子步骤D3：将各测点最近1个周期的量测值投影到该测点的第二回归直线上；

子步骤D4：计算投影点的纵坐标S_i,2Y。