[发明专利]散装材料的拓扑确定

权利要求书

1.一种用于确定散装材料(1102)的拓扑的测量设备(1300)，包括：

天线装置(1301)，其用于在该天线装置的主辐射方向中发射传输信号，并且用于接收至少在所述散装材料的表面上被反射的传输信号；

回波曲线生成单元(1303)，其被配置用于根据由所述天线装置接收的所述被反射的传输信号来生成回波曲线，所述回波曲线对应于所述被反射的传输信号在所述测量设备的距离测量范围内的信号强度；

定位装置(1307，1308)，其用于改变所述天线装置的所述主辐射方向(1305)，以使之能够以不同的主辐射方向生成一系列回波曲线；

评估单元(1304)，其用于确定所述散装材料的所述拓扑，其中所述评估单元执行以下步骤来确定所述拓扑：

a)建立第一距离单元，所述第一距离单元是所述一系列回波曲线中的每个回波曲线的特定部分；

b)通过与所述一系列回波曲线中的其他回波曲线相比，来确定所述一系列回波曲线中的在所述第一距离单元内具有最大信号强度的回波曲线；

c)确定所述最大信号强度的坐标以及与该最大信号强度对应的距离，其中所述坐标是与所述具有最大信号强度的回波曲线对应的传输信号被发射的主辐射方向；

d)针对另外的距离单元重复地执行步骤(a)至步骤(c)；和

e)根据所述最大信号强度的坐标而生成所述散装材料的表面的拓扑的图像。

2.根据权利要求1所述的测量设备，其中，所述评估单元进一步执行以下步骤来确定所述拓扑：

f)创建包括在步骤c)中所确定的所述坐标的值的矩阵。

3.根据前述权利要求中任一项所述的测量设备，其中，所述评估单元(1304)被配置成执行以下步骤：

g)利用在步骤a)至步骤d)中所获得的数据来确定料位或散装材料体积。

4.根据权利要求1或2所述的测量设备，其中，所述定位装置(1307，1308)被配置成在二维中改变所述天线装置(1301)的所述主辐射方向。

5.根据权利要求1或2所述的测量设备，其中，为了改变所述天线装置(1301)的所述主辐射方向，所述定位装置包括用于设定所述天线装置的定向的机械调节装置(1307，1308)。

6.根据权利要求1或2所述的测量设备，其中，所述定位装置(1307，1308)包括用于改变所述天线装置(1301)的所述主辐射方向的反射器(1401)以及用于改变所述反射器的位置并因此改变所述天线装置(1301)的所述主辐射方向的机械调节装置(1403，1404)。

7.根据权利要求1或2所述的测量设备，其中，所述测量设备被配置成料位测量设备。

8.根据权利要求1或2所述的测量设备，其中，所述测量设备被配置成脉冲雷达装置或调频连续波FMCW测量设备。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的测量设备在确定位于传送带上的散装材料的体积流中的应用。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的测量设备在确定散装材料的质量中的应用。