[发明专利]一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术，尤其涉及的是一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法。

背景技术

为了满足集成电路工艺不断发展的要求，IP核复用思想的提出导致系统芯片(SOC)的集成度越来越高，单个芯片上的数据量的增加对电路测试增加了难度。系统自动测试设备(ATE)已经满足不了测试数据量增加的需求，大大增加了测试成本。

快速有效的完成对SOC的测试，可以有效的减少测试的成本。内建自测技术和外建自测技术被广泛应用于测试集数据减少的研究。内建自测技术(BIST)是利用芯片自带的测试生成器，直接在片上生成测试向量，降低对ATE的要求。但是数据量的激增使得它不能满足需求。外建自测技术是将测试资源进行适当划分，将一部分测试数据移到芯片外，以减少测试成本，如测试数据压缩技术。这些技术将原始测试集T_D进行适当的划分，然后用选定的码字代替，压缩为T_E存储到ATE中传给芯片，再通过解码器还原。现有的编码方法可以分为定长到定长的编码方法、定长到变长、变长到定长、变长到变长、混合定变长五种，这些方法都有很好的压缩效果。

测试数据压缩技术能够减少预先计算的测试集T_D，得到较小的测试集T_E。近几年已经提出了一些有效的测试数据压缩方法，分为定长到定长的编码方法、定长到变长、变长到定长、变长到变长、混合定变长五种，从各技术的压缩效果来看，都有很好的压缩效果。但是，虽然传统的FDR码有很好的压缩效果，但是在解压时的硬件开销较大，通信协议较为复杂。因此在是压缩率达到最高的前提下考虑解压成本。

本方法提出一直基于异或逻辑运算的测试数据压缩编码方法，不用像FDR码和Golomb码那样，用前缀和后缀来记录，只要用一定的标记位来表示折半的次数，就可以换算出数据块的长度。而且在解压时，只要一个移位计数器就可以换算出数据块的长度。本方法不仅有很好的压缩效果，而且解压也比较容易，在硬件开销和通信协议上有很大的改进。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法。

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法，其步骤如下：

A、将测试集L看成一个数据流，按照单位长度M(M<L)，将测试集L进行分段，其中M＝2ⁿ，(n为整数，且n>0)，对于最后不足单位长度M的数据块，用无关位X进行填充；

B、对每一数据块，分析计算：

(1)如果数据块全是0序列或者全是1序列，用标记位来标记；

(2)如果数据块是01序列或10序列，在数据块序列前添加1或0，再将后面一位分别与前面一位进行异或逻辑运算，化成全1序列，再用标记位表示；

(3)否则，我们对数据块进行折半；

(4)看折半后的长度是否达到最小临界值MIN，若是，停止折半，若否，返回步骤(1)。

C、对每个数据块根据标记位和编码规则进行编码，生成种子结果，所生成的单个种子结果与对应的段长编码一起构成该段压缩后的数据，每段压缩后的数据按顺序合并后即为最终的压缩数据。

本发明相比现有技术具有以下优点：本文所提出基于异或逻辑运算折半划分的压缩方法，在折半划分的基础上，对非全0/1的序列进行优化，加入异或逻辑运算化为全1序列，不能进行优化的再采用折半划分方法.只要记录折半的次数，就可以换算出原始数据块的长度，提高了压缩率，减少了减压时的硬件开销，从而减少成本。

附图说明

图1是本发明的一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法的流程图。

图2为基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法的编码规则。

图3为本发明的编码实例图，图3(a)原始测试集，总长度为16，3(b)和3(c)折半划分的示意图，图3(d)为折分后的测试集结果。

具体实施方式

下面对本发明的实施例作详细说明，本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。

参见图1，一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法的流程图。结合图1，一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法，其步骤如下：

一种基于异或逻辑运算折半划分的测试数据压缩方法，其特征在于，包括如下步骤：