[发明专利]一种集成电路自动测试系统和测试方法

权利要求书

1.一种集成电路自动测试系统，其特征在于它包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。

2.一种集成电路自动测试方法，其特征在于它包括以下步骤：

(1)将待测芯片放入芯片插座并固定，在主控计算机上设定控制参数，包括DDS电路输出信号频率，待测芯片的每个管脚的连接关系；

(2)单片机通过USB接口电路接收控制参数并将控制参数预置进逻辑控制电路中；

(3)逻辑控制电路将信号频率参数按照时序配置到DDS电路上，DDS电路输出测试需要的频率的正弦或方波信号，同时逻辑控制电路控制模拟开关的通道选择，芯片的每个管脚都相应的与设定的通路连接，所述的通路包括正电源、负电源、地、DDS输出信号、芯片的其它管脚、电路输出、悬空七种连接方式；

(4)整形电路将芯片输出信号整形成方波信号并将信号送入逻辑控制电路，逻辑控制电路测量信号频率，单片机读取逻辑控制电路测量的频率值并将值通过USB电路上传到主控机；

(5)主控计算机比较设定值与返回值，频率一致即为芯片功能正常，否则为不正常。系统也支持示波器直接观测输出信号，示波器显示波形正常则芯片功能正常，否则功能不正常。