[发明专利]采用倾斜并旋转试样测量反极图的方法

权利要求书

1.一种采用倾斜并旋转试样测量反极图的方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)各个衍射峰峰位置的确定：采取对称衍射方法获得一张试样及标样的衍射图谱，来确定若干个{hkl}衍射峰峰位置，即2θ位置，及衍射峰左右两边的背底位置；

2)把试样放在X-射线衍射仪测量装置的1θ轴上，探测器置于2θ轴上，首先让1θ轴和2θ轴均处于0°初始位置；

3)让1θ轴和2θ轴按1:2的角速度之比，将探测器依次旋转到步骤1)中所确定的衍射峰峰位置，探测器每到达一个衍射峰峰位置，探测器停止，让1θ轴上的试样按照步进速度每步0.1～1°从-10°位置顺时针旋转到+10°位置，1θ轴每旋转0.1～1°后停下，然后让试样以试样法线为旋转轴旋转360°，同时计算机记录1θ轴每一步进下且当试样旋转360°的过程中探测器上衍射峰的X-射线的强度I⁰_试样；

4)让1θ轴和2θ轴按1:2的角速度之比，将探测器依次旋转到步骤1)中所确定的衍射峰左右两边的背底位置，探测器每到达一个背底位置，探测器停止，让1θ轴上的试样按照步进速度每步0.1～1°从-10°位置顺时针旋转到+10°位置，1θ轴每旋转0.1～1°后停下，然后让试样以试样法线为旋转轴旋转360°，同时计算机记录1θ轴上每一步进下且试样以试样法线为旋转轴旋转360°的过程中探测器上的X-射线的强度I_{试样背底左}和I_{试样背底右}，将I_{试样背底左}和I_{试样背底右}取平均值即为1θ轴每一步进下且当试样旋转360°的过程中探测器上衍射峰的背底强度I_试样背底；

5)计算出试样旋转时在不同步进位置下{hkl}衍射峰的净强度I_试样hkl＝I⁰_试样-I_试样背底；

6)将试样从1θ轴上卸下，放入标样，按步骤2)～5)的测量步骤测定标样旋转时在不同步进位置下{hkl}衍射峰的净强度的I_标样hkl；

7)计算出试样与标样旋转时在不同步进位置下的衍射峰净强度的比值I_试样hkl/I_标样hkl，并将所有的比值取平均值即为该{hkl}衍射峰的极密度值；同理计算出其它{hkl}衍射峰的极密度值；

8)将步骤7)中得到的各个{hkl}衍射峰的极密度值标在试样的反极图上，完成测量过程。

2.根据权利要求1所述的采用倾斜并旋转试样测量反极图的方法，其特征在于：所述步骤3)和4)中步进速度为每步0.5～1°。