[发明专利]一种检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示基板的检测技术，特别是一种检测方法及装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)作为手机、平板电脑、笔记本电脑、显示器及电视机等产品的显示元件，在现今的生活中已变得不可或缺。

为了保证显示器的性能，在显示器生产和销售的过程中要进行各种各样的测试，其中就包括对显示面板的显示性能(如闪烁、Mura等)的测试。

目前，TFT-LCD行业中彩膜基板制作的最后一道工序为人眼宏观检测，就是对所有涂膜工序完成后的彩膜基板进行全部的人眼宏观检测。

然而现有的人眼宏观检测需要耗费大量的人力物力，说明如下。

一个成熟的彩膜基板生产工厂，宏观缺陷的不良率约为万分之一，也就是说平均1万张彩膜基板中仅有一张存在宏观不良缺陷。人眼宏观检测检测一张基板大约需要110秒，那么为了从1万张彩膜基板检出这一张存在宏观不良缺陷的彩膜基板，需要耗费大约110万秒，即超过300个小时的检测时间。安排10个检测人员进行检测的话，也需要耗费超过30个小时。

而如果采用抽检的方式，则几乎没有可能从1万张彩膜基板检查出这一张存在宏观不良缺陷的彩膜基板。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种检测方法及装置，降低品质检测的人力消耗。

为了实现上述目的，本发明实施例提供了一种检测方法，其中，包括：

通过第一图像采集设备获取所述待检测基板的第一图像；

根据所述第一图像获取所述待检测基板的第一品质控制参数的第一检测值；

根据所述第一检测值判断所述待检测基板是否符合预先设置的第一品质控制策略，获取第一判断结果；

在所述第一判断结果指示所述待检测基板符合所述第一品质控制策略时，确定所述待检测基板归类到不需要进行宏观品质检测的基板。

上述的检测方法，其中，还包括：

在所述第一判断结果指示所述待检测基板不符合所述第一品质控制策略时，根据所述第一检测值确定所述待检测基板不满足所述第一品质控制策略的问题区域；

通过第二图像采集设备获取所述问题区域的第二图像；

根据所述第二图像获取所述待检测基板的第二品质控制参数的第二检测值；

根据所述第二检测值判断所述待检测基板是否符合预先设置的第二品质控制策略，获取第二判断结果；

在所述第二判断结果指示所述待检测基板符合所述第二品质控制策略时，确定所述待检测基板归类到不需要进行宏观品质检测的基板。

上述的检测方法，其中，所述第二图像中所述问题区域的采样点数量大于所述第一图像中所述问题区域的采样点数量；或，所述第二图像的颜色质量高于第一图像的颜色质量。

上述的检测方法，其中，所述第二图像为彩色图像，所述第二品质控制参数的第二检测值为问题区域的彩色图像的第一平均色度值，根据所述第二检测值判断所述待检测基板是否符合预先设置的第二品质控制策略，获取第二判断结果具体包括：

获取与所述问题区域相邻的，具有相同形状的对比区域的彩色图像，并计算对比区域的彩色图像的第二平均色度值；

当第一平均色度值和第二平均色度值的比值超出预定的区间时，则得到果指示所述待检测基板符合所述第二品质控制策略的第二判断结果。

上述的检测方法，其中，所述第一品质控制参数为与灰度相关的参数，所述根据所述第一图像获取所述待检测基板的第一品质控制参数的第一检测值具体包括：

将所述第一图像转换为灰度图像；

根据所述灰度图像获取所述第一品质控制参数的第一检测值。

上述的检测方法，其中，所述待检测基板的第一品质控制参数的第一检测值为所述待检测基板的预定数量的采样点的灰度检测值序列，根据所述第一检测值判断所述待检测基板是否符合预先设置的第一品质控制策略，获取第一判断结果具体包括：

根据所述灰度检测值序列和移动平均值计算得到所述灰度检测值序列对应的移动平均值序列；

根据上下限值计算所述移动平均值序列对应的检测序列；

将所述灰度检测值序列中的处于检测序列之外灰度检测值所对应的检测点判定为问题采样点；

根据所述问题采样点判决所述待检测基板是否符合预先设置的第一品质控制策略。

为了实现上述目的，本发明实施例还提供了一种检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于通过第一图像采集设备获取所述待检测基板的第一图像；

第二获取模块，用于根据所述第一图像获取所述待检测基板的第一品质控制参数的第一检测值；