[发明专利]一种超高频阅读器对多标签识别性能测试方法

说明书

技术领域

本发明属于射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)技术，具体涉及一种满足国军标(GJB7377.1-2011)协议的超高频阅读器对多标签识别性能测试的方法。

背景技术

随着射频识别技术的广泛应用，迫切需要读写器在有限时间内高效快速的识别大量标签，当读写器作用范围内存在多个待识别的标签时，读写器会接收到混叠和干扰的标签应答信号，导致读写器无法对任意一个标签进行识别，即产生碰撞。在RFID系统中，解决标签碰撞问题的算法称为标签防碰撞算法，该算法性能的优劣直接影响阅读器对多标签的识别能力。在阅读器对多标签识别能力的测试中，第一种方法是防碰撞算法的仿真模拟，该方法能分析出防碰撞的理论性能指标，但在具体的阅读器对多标签识别能力测试中，不能直观、实际的反映阅读器防碰撞处理流程上的优劣及问题所在；第二种方法通过真实的多个标签搭建测试平台，但当待测标签数量很大时对测试平台的搭建有比较苛刻的要求。

发明内容

针对现有技术存在的上述问题，本发明提出了一种超高频阅读器对多标签识别性能测试方法。

本发明的技术方案为：一种超高频阅读器对多标签识别性能测试方法，具体包括以下步骤：

S1.初始化配置：配置模拟标签个数、模拟标签盘存标记、并将时隙值存储器中每个标签的时隙值置为0；

S2.阅读器命令解析：按照超高频阅读器协议中命令代码解析阅读器所发送的命令类型、命令参数；

S3.盘点标志是否匹配：将盘点标记存储器中每个标签的盘点标记与启动查询命令中Target数据进行匹配，如果相等则进行步骤S4操作，否则返回到步骤S2；

S4.根据阅读器命令生成相应时隙值：根据不同的阅读器命令类型，标签模拟器产生与之相应的时隙值；

S5.时隙值写入时隙值存储器，并将时隙值等于0的计数：将步骤S4中产生的时隙值写入标签时隙值存储器中，同时判断时隙值为零的个数；

S6.发送有无碰撞的句柄响应：如果在S5中产生的时隙值为零的个数为1，则标签模拟器发送无碰撞的句柄响应；如果时隙值为零的个数不等于1，则标签模拟器发送有碰撞的句柄响应，且在该响应发送完成后返回到步骤S2；

S7.ACK命令解析：按照超高频阅读器协议中命令代码解析ACK命令；

S8.T1超时则发送编码响应：标签模拟器解析到阅读器发送的ACK命令开始计时，计时满T1时则发送编码响应，其中，T1为预先设定的阈值；

S9.编码响应发送完毕后反转标签模拟器的盘点标记：反转已识别的标签盘点标记，并将盘点标记值写入盘点标记存储器中，在编码响应发送完毕后返回到S2。

本发明的有益效果：本发明的方法针对满足国军标协议的超高频阅读器对多标签识别能力的测试，可以依照标签数目的配置可方便高效的生成100个以上的模拟标签，模拟标签的数目灵活可配置，且模拟标签的响应符合国军标协议要求。相比于搭建真实的多标签测试平台没有严格的要求，且具有简便、灵活性等优点，是一种简便高效，并且是超高频阅读器多标签识读能力测试的重要补充方法

附图说明

图1是本发明的超高频阅读器对多标签识别性能测试方法流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明的方法作进一步的说明。

本发明方法的具体思路是：依据标签数目寄存器初始化时隙值存储器、盘点标记存储器；解析阅读器所发送的命令类型，从读取盘点标记存储器中读取每个标签的盘点标记，并与阅读器所发送的盘点标记进行匹配；如果匹配，则根据相应的阅读器命令产生时隙值，并将时隙值写入时隙值存储器中，同时判断时隙值为零的个数，如果时隙值为零的个数等于1，则发送无碰撞的标签句柄响应命令，记录该时隙值的地址，并将该地址加1后的值作为待响应标签的编码数据；如果时隙值为零的个数不等于1，则发送有碰撞的标签句柄响应命令。当标签收到ACK命令后，且同时满足句柄正确和T1超时，则发送标签编码响应命令，待编码响应命令发送完毕后，反转盘点标记存储器中对应标签的盘点标记值，返回到解析阅读器发送命令类型的步骤。

本发明的方法思路时隙值对应成模拟标签，存储空间中不必存放每个标签的数据内容，且每个标签不需要单独的满足国军标的协议状态处理，极大的节约了存储空间等资源的消耗，标签数目的大小直接取决于时隙值存储器空间的大小，而一个标签时隙计数值只占用存储器15位的空间，因此可以模拟生成少则百个多则上千个模拟标签。可便捷、灵活的测试阅读器对多标签的识别能力。