[发明专利]一种太阳能硅片电阻率电涡流测试方法有效

专利信息
申请号: 201410228229.0 申请日: 2014-05-27
公开(公告)号: CN104052398A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 颜友钧;郑钰;赵丹 申请(专利权)人: 江苏瑞新科技股份有限公司
主分类号: H02S50/10 分类号: H02S50/10
代理公司: 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 代理人: 何蔚
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳能 硅片 电阻率 涡流 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种太阳能硅片电阻率电涡流测试方法,适用于单晶和/或多晶太阳能硅片的非接触测试,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一,电涡流激励器f1激励太阳能硅片并在太阳能硅片表面形成涡流,电涡流传感器感应所述涡流生成电流信号和电压信号;

步骤二,高频变压器采集步骤一中的电压信号,无感电阻采集步骤一中的电流信号;

步骤三,第一差频器将高频振荡源f2与步骤二中电压信号差频后得到中频电压信号,第二差频器将高频振荡源f2与步骤二中电流信号差频后得到中频电流信号;

步骤四,将步骤三中的中频电压信号依次经过第一中频放大器进行中频放大、第一检波及低通电路进行滤除交流分量、第一直流放大器进行放大和模数转换器转换,最后得到电压的模拟量V;

步骤五,将步骤三中的中频电流信号依次经过第二中频放大器进行中频放大、第二检波及低通电路进行滤除交流分量、第二直流放大器进行放大和模数转换器转换,最后得到电流的模拟量i;

步骤六,将步骤四和步骤五中电压的模拟量V和电流的模拟量i根据以下公式计算出太阳能硅片的电阻率:

ρ=(Vi·LAM)t]]>

其中,L为涡流的圆形长度,A为涡流的面积,M为电涡流激励器f1激励与硅片电涡流之间的耦合系数,t为太阳能硅片的厚度。

2.根据权利要求1所述的太阳能硅片电阻率电涡流测试方法,其特征在于,所述步骤一中电涡流传感器为线圈和电容并联的谐振回路。

3.根据权利要求1所述的太阳能硅片电阻率电涡流测试方法,其特征在于,所述步骤一中电涡流激励器f1生成频率为2.725Mhz~2.775Mhz,幅度为1.5Vp-p±2mV的高频正弦波信号。

4.根据权利要求1所述的太阳能硅片电阻率电涡流测试方法,其特征在于,所述步骤一中电涡流激励器f1的输入端连接有f1自动幅度控制器。

5.根据权利要求1所述的太阳能硅片电阻率电涡流测试方法,其特征在于,所述步骤三中高频振荡源f2生成频率大于f1465Khz的高频正弦波信号。

6.根据权利要求1所述的太阳能硅片电阻率电涡流测试方法,其特征在于,所述步骤三中高频振荡源f2的输入端连接有f2幅度控制器。

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