[发明专利]静电释放检测方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201410228455.9 申请日: 2014-05-27
公开(公告)号: CN104009813A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 谢青青;王鑫;赵轶 申请(专利权)人: 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;G01R31/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;张永明
地址: 100086 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 静电 释放 检测 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种静电释放检测方法,其特征在于,包括:

实时采集接收端的误码数据;

判断预设时间段内的误码数据是否符合预设条件;

在判断出所述预设时间段内的所述误码数据符合预设条件的情况下,确认在所述预设时间段内发生了静电释放。

2.根据权利要求1所述的静电释放检测方法,其特征在于,判断预设时间段内的误码数据是否符合预设条件包括:

获取第一时间数据和第二时间数据,其中,所述第一时间数据和所述第二时间数据分别包括多个连续的时间窗口;

按照所述误码数据确定每个所述时间窗口中的误码子数据;

判断所述时间窗口内的所述误码子数据是否符合预设条件。

3.根据权利要求2所述的静电释放检测方法,其特征在于,获取第一时间数据和第二时间数据包括:

建立所述接收端接收数据的第一时间轴,将所述第一时间轴作为所述第一时间数据;

将所述第一时间轴按照预设窗口划分数据将所述第一时间轴划分为多个所述时间窗口;

将所述第一时间轴平移预设平移数据的时间得到第二时间轴,将所述第二时间轴作为所述第二时间数据。

4.根据权利要求2或3所述的静电释放检测方法,其特征在于,判断所述时间窗口内的所述误码子数据是否符合预设条件包括:

判断第一误码子数据、第二误码子数据以及第三误码子数据中是否大于预设阈值,以及第四误码子数据是否小于所述预设阈值,

在所述第一误码子数据、所述第二误码子数据以及所述第三误码子数据中至少一个大于所述预设阈值,且所述第四误码子数据小于所述预设阈值的情况下,判断出所述时间窗口内的所述误码子数据符合所述预设条件;

其中,第一误码子数据为所述第一时间数据中的第n个时间窗口的误码子数据,第二误码子数据为所述第一时间数据中的第n+1个时间窗口的误码子数据,第三误码子数据为所述第二时间数据中的第n个时间窗口的误码子数据,所述第四误码子数据位所述第二时间数据中的第n+1个时间窗口的误码子数据,n为自然数。

5.一种静电释放检测装置,其特征在于,包括:

采集单元,用于实时采集接收端的误码数据;

判断单元,用于判断预设时间段内的误码数据是否符合预设条件;

确定单元,用于在判断出所述预设时间段内的所述误码数据符合预设条件的情况下,确认在所述预设时间段内发生了静电释放。

6.根据权利要求5所述的静电释放检测装置,其特征在于,所述判断单元包括:

获取模块,用于获取第一时间数据和第二时间数据,其中,所述第一时间数据和所述第二时间数据分别包括多个连续的时间窗口;

第一确定模块,用于按照所述误码数据确定每个所述时间窗口中的误码子数据;

判断模块,用于判断所述时间窗口内的所述误码子数据是否符合预设条件。

7.根据权利要求6所述的静电释放检测装置,其特征在于,所述获取模块包括:

建立模块,用于建立所述接收端接收数据的第一时间轴,将所述第一时间轴作为所述第一时间数据;

划分模块,用于将所述第一时间轴按照预设窗口划分数据将所述第一时间轴划分为多个所述时间窗口;

平移模块,用于将所述第一时间轴平移预设平移数据的时间得到第二时间轴,将所述第二时间轴作为所述第二时间数据。

8.根据权利要求6或7所述的静电释放检测装置,其特征在于,所述判断模块包括:

判断子模块,用于判断第一误码子数据、第二误码子数据以及第三误码子数据中是否大于预设阈值,以及第四误码子数据是否小于所述预设阈值,

第二确定模块,用于在所述第一误码子数据、所述第二误码子数据以及所述第三误码子数据中至少一个大于所述预设阈值,且所述第四误码子数据小于所述预设阈值的情况下,判断出所述时间窗口内的所述误码子数据符合所述预设条件;

其中,第一误码子数据为所述第一时间数据中的第n个时间窗口的误码子数据,第二误码子数据为所述第一时间数据中的第n+1个时间窗口的误码子数据,第三误码子数据为所述第二时间数据中的第n个时间窗口的误码子数据,所述第四误码子数据位所述第二时间数据中的第n+1个时间窗口的误码子数据,n为自然数。

9.一种静电释放检测系统,其特征在于,包括:权利要求5至8中任意一项所述的静电释放检测装置。

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