[发明专利]一种电子电器部件线性非线性的检测方法

权利要求书

1.一种电子电器部件线性非线性的检测方法，其特征在于，包括以下步骤；

步骤一、模拟量检测通道的建立；模拟量检测通道，包括，低频信号源、标准模拟量通道和待测模拟量通道，所述低频信号源在标准模拟量通道和待测模拟量通道的输入端，分别同步输入同频同幅的低频交流信号；

步骤二、微控制器的建立；微控制器，包括，数据同步采集、A/D转换芯片、数据存储和通讯接口，所述微控制器，对标准模拟量通道和待测模拟量通道的数据进行同步采集，通过A/D转换芯片对同步采集的数据经过A/D转换后进行数据存储，并通过通讯接口与计算机交互，传递数据与控制信息；

步骤三、计算机一方面通过通讯接口控制微控制器的采样，另一方面对采样数据进行处理，通过数据处理得出测试结果并输出。

2.根据权利要求1所述的电子电器部件线性非线性的检测方法，其特征在于，所述步骤一中标准模拟量通道的数量为1个，待测模拟量通道的数量为n个(n为正整数)。

3.根据权利要求1所述的电子电器部件线性非线性的检测方法，其特征在于，所述步骤三中计算机数据处理过程，包括以下步骤；

步骤一、将采样数据组成f₀_f_M二维点集，设时刻T_i(i＝1,2,3…n)，f₀(t)和f_M(t)的采样值分别为f₀(T_i)和f_M(T_i)，则点(f₀(T_i),f_M(T_i))是f₀和f_M构成的二维平面内的一个点，所有的点(f₀(T_i),f_M(T_i))(n＝1,2,3…)组成了一个点集f₀_f_M＝{(f₀(T₁),f_M(T₁)),(f₀(T₂),f_M(T₂))…(f₀(T_n),f_M(T_n))}；

步骤二、对点集f0_fM进行线性回归分析和非线性分析，计算线性误差(比例误差A和零点漂移量B)、线性相关系数和非线性误差；

比例误差A：

A=Σi=1n(xi-x‾)(yi-y‾)Σi=1n(xi-x‾)2]]>

零点漂移量B：

B=y‾-Ax‾]]>

线性相关系数R：

R=Σi=1n(xi-x‾)(yi-y‾)Σi=1n(xi-x‾)2Σi=1n(yi-y‾)2]]>

非线性误差δ：

δ＝(max(|f_M(T₁)‐f₀(T₁)|,|f_M(T₂)‐f₀(T₂)|…|f_M(T_n)‐f₀(T_n)|)/f_R)*100％

其中：

xi＝f0(Ti)，yi＝fM(Ti)

x‾=1nΣi=1nxi]]>

y‾=1nΣi=1nyi;]]>

f_R:为模拟量通道的额定输入范围；

步骤三、根据点集f₀_f_M描绘待测模拟量通道的输入、输出特性曲线，描绘f₀_f_M坐标系下的直线f_M(t)＝f₀(t)；

步骤四、根据预先设定的指标要求，以及各指标的实测值综合得出检测结果并输出。